[发明专利]流体的测量方法、测量装置以及测量系统有效

专利信息
申请号: 201880043262.2 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN110799831B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 畔津昭彦;北岛一庆;仓辻风树;落合成行 申请(专利权)人: 学校法人东海大学;日本加野麦克斯股份公司
主分类号: G01N21/85 分类号: G01N21/85;G01N21/27;G01P13/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 流体 测量方法 测量 装置 以及 系统
【权利要求书】:

1.一种流体的测量方法,其特征在于,具有:

准备工序,将光致变色化合物溶解在所述流体中,所述光致变色化合物是通过被照射变异发生光而光的吸收量发生变化的化合物;

变异发生光照射工序,向所述流体照射引起光致变色现象的变异发生光;

变异后图像拍摄工序,拍摄被照射所述变异发生光后的所述流体的图像;以及

图像处理工序,

其中,在所述变异后图像拍摄工序中,通过使用第一波长区域的第一光拍摄所述流体来生成第一图像,所述第一波长区域的第一光是通过被照射变异发生光而光的吸收量发生变化的光,

在所述变异后图像拍摄工序中,还生成第二图像,该第二图像是使用所述吸收量完全或几乎不变化的第二波长区域的第二光来拍摄与所述第一图像的拍摄同时刻的所述流体而得到的,

所述图像处理工序是所述变异后图像拍摄工序之后的工序,在所述图像处理工序中,使用所述第一图像和所述第二图像来生成第三图像。

2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,

在将构成所述第一图像的像素的光强度设为“I11”、将构成所述第二图像的像素的光强度设为“I21”的情况下,

在所述图像处理工序中,使用下面的式(1)来计算各像素中的吸光度A1,通过将各像素的计算结果进行二维图案化来生成所述第三图像,

A1=-LOG(I11/I21)…式(1)。

3.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于,

在所述变异发生光照射工序之前具有变异前图像拍摄工序,在所述变异前图像拍摄工序中,拍摄被照射所述变异发生光之前的所述流体的图像,

在所述变异前图像拍摄工序中,生成第四图像,该第四图像是使用所述第一波长区域的第一光来拍摄所述流体而得到的,

在所述变异前图像拍摄工序中,还生成第五图像,该第五图像是使用所述第二波长区域的第二光来拍摄与所述第四图像的拍摄同时刻的所述流体而得到的,

在将构成所述第四图像的像素的光强度设为“I10”、将构成所述第五图像的像素的光强度设为“I20”、将构成所述第一图像的像素的光强度设为“I11”、将构成所述第二图像的像素的光强度设为“I21”的情况下,

在所述图像处理工序中,使用下面的式(2)来计算各像素中的吸光度A,通过将各像素的计算结果进行二维图案化来生成所述第三图像,

A=-LOG(I11/I21)-(-LOG(I10/I20))…式(2)。

4.一种流体的测量方法,其特征在于,具有:

准备工序,将光致变色化合物溶解在所述流体中,所述光致变色化合物是通过被照射变异发生光而光的吸收量发生变化的化合物;

变异发生光照射工序,向所述流体照射引起光致变色现象的变异发生光;

变异后图像拍摄工序,拍摄被照射所述变异发生光后的所述流体的图像;以及

流体厚度计算工序,

其中,在所述变异后图像拍摄工序中,通过使用第一波长区域的第一光拍摄所述流体来生成第一图像,所述第一波长区域的第一光是通过被照射变异发生光而光的吸收量发生变化的光,

在所述变异后图像拍摄工序中,还生成第二图像,该第二图像是使用所述吸收量完全或几乎不变化的第二波长区域的第二光来拍摄与所述第一图像的拍摄同时刻的所述流体而得到的,

所述流体厚度计算工序是所述变异后图像拍摄工序之后的工序,在所述流体厚度计算工序中,使用所述第一图像和所述第二图像来计算所述流体的厚度。

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