[发明专利]用于散射校准的系统和方法在审
申请号: | 201880043750.3 | 申请日: | 2018-10-25 |
公开(公告)号: | CN110914868A | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 杨宏成;J·墨子 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 | 代理人: | 袁春晓 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 散射 校准 系统 方法 | ||
1.一种系统被配置为处理投影数据,包括:
至少一种非暂时性存储介质,包括一组指令;以及
至少一个处理器与所述至少一个非暂时性存储介质通信,其中,当执行所述指令时,所述至少一个处理器被配置为用于所述系统:
通过第一成像设备获取通过对对象执行第一扫描生成的第一图像;
基于所述第一图像确定第一投影数据,所述第一投影数据对应于所述对象的第一区域;
通过使用第二成像设备执行所述对象的第二扫描获取第二投影数据,所述第二投影数据对应于所述对象的第二区域,所述第一区域与所述第二区域在重叠区域中至少部分重叠;
通过根据所述重叠区域,将所述第一投影数据配准到所述第二投影数据,确定配准的第一投影数据;
基于所述配准的第一投影数据和所述第二投影数据,确定散射分量,所述散射分量包括低频散射辐射信号;以及
基于所述散射分量和所述第二投影数据,确定校准的第二投影数据。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,基于所述第一图像,确定所述第一投影数据,所述至少一个处理器进一步被配置为用于所述系统:
基于与所述第一图像相关的物理密度分布和与所述第一图像相关的材料分布,确定所述第一投影数据。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,基于所述第一图像的CT值,确定与所述第一图像相关的所述物理密度分布。
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,确定与所述第一图像相关的所述材料分布,所述至少有一个处理器进一步被配置为用于所述系统:
基于与所述第一图像相关的所述物理密度分布或所述第一图像的所述CT值,将所述第一图像分割成一个或一个以上区域,所述一个或以上区域的每一个区域对应于所述对象的成分类别;以及
基于与所述对象的成分类别对应的所述一个或以上区域,确定与所述第一图像相关的所述材料分布。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,使用所述第二设备生成的一个或以上能谱的能量射束执行所述第二扫描,基于所述第二设备的所述能谱和探测器能量响应进一步确定所述第一投影数据,以及基于所述第一图像和所述第二设备的所述能谱和探测器能量响应确定第一投影数据,所述至少一个处理器进一步用于:
基于能量范围度量标准,划分与所述第二扫描相关的所述能量射束的所述能谱到一个或以上的区间中,每个区间对应一个能量范围;
对于所述一个或以上的区间中的每个区间,基于所述第一图像和与所述区间对应的能量范围,确定模拟投影数据;以及
合并所述一个或以上区间的所述模拟投影数据生成所述第一投影数据。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述一个或以上的区间中的每个区间的所述模拟投影数据对应于至少两个体素,以及确定对应于区间的所述模拟投影数据,所述至少一个处理器进一步被配置为用于所述系统:
将所述第一图像转换为物理密度分布;
基于所述物理密度分布或所述第一图像的CT值,将所述第一图像分割成一个或以上类别;以及
对于所述一个或以上区间中的每个区间,
基于所述一个或以上类别和对应于所述区间的所述能量范围,确定对应于所述区间的所述至少两个体素的质量衰减系数矩阵;
基于所述质量衰减系数矩阵和所述物理密度分布,确定对应于所述区间的线性衰减系数矩阵;以及
基于所述线性衰减系数矩阵,确定所述区间的所述模拟投影数据。
7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,对于所述一个或以上区间中的每个区间,所述至少一个处理器进一步用于:
基于对应于所述能量范围的探测器能量响应,确定所述模拟投影数据。
8.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一投影数据到所述第二投影数据的所述配准是二维配准。
9.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一图像包括第一等中心信息,以及基于所述第一等中心信息执行所述第二扫描。
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