[发明专利]用于测量对象的光学表面测量的方法和设备

权利要求书

1.一种用于测量对象（2）的光学表面测量的方法，其中利用图像产生装置（1）显示图像图案，并且用所产生的图像图案照射所述测量对象，其中用检测装置（3）记录由所述测量对象通过反射、散射、衍射和/或透射而影响的所述图像图案，其中借助于校正函数将所述图像产生装置（1）以及由此所显示的图像图案适配成，使得由所述检测装置（3）记录的受影响的所述图像图案一时地和/或局部地具有恒定和/或均匀和/或线性的亮度，

其特征在于，借助于所述校正函数校正所述图像产生装置（1）显示的图像图案的不均匀的亮度分布，或者

借助于所述校正函数对一系列连续显示的多个图像图案的灰度值分布和/或颜色分布进行适配，使得所显示的图像图案各自具有相同的整体亮度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，借助于所述校正函数，将所述图像产生装置（1）的伽玛校正适配于所述检测装置（3）的伽玛校正。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，借助于所述校正函数校正由侧向视线（7）引起的、由所述图像产生装置（1）显示的图像图案的不均匀性。

4.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，借助于所述校正函数来适配在所述图像产生装置（1）上或所述图像产生装置（1）处显示的图像图案的几何布置。

5.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，作为校正函数使用查找表。

6.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，作为校正函数使用任意数学函数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述校正函数与线性函数叠加。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述校正函数在空间上在一个或两个轴上起作用和/或所述校正函数随时间变化。

9.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于，所述图像产生装置（1）具有投影仪和/或监视器和/或屏幕，和/或所述检测装置（3）具有照相机。

10.用于执行根据权利要求1至9之一所述的方法的设备，包括用于显示图像图案的图像产生装置（1）和用于记录由所述测量对象（2）通过反射、散射、衍射和/或透射而影响的图像图案的检测装置（3），并且其中所述图像产生装置（1）具有校正单元（4），所述校正单元（4）通过校正函数来适配所显示的图像图案，使得由所述检测装置（3）记录的受影响的图像图案一时地和/或局部地具有恒定和/或均匀和/或线性的亮度，

其特征在于，所述校正单元（4）借助于所述校正函数校正所述图像产生装置（1）的不均匀的亮度分布，或者

所述校正单元（4）借助于所述校正函数对一系列连续显示的多个图像图案的灰度值分布和/或颜色分布进行适配，使得所显示的图像图案各自具有相同的整体亮度。