[发明专利]在光谱仪中为样品提供尺寸可变的孔径的装置有效
申请号: | 201880046168.2 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN110869724B | 公开(公告)日: | 2022-10-28 |
发明(设计)人: | J·M·科芬 | 申请(专利权)人: | 热电科学仪器有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G02B5/00;G01J3/02;G01J3/453 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 江漪 |
地址: | 美国威*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱仪 样品 提供 尺寸 可变 孔径 装置 | ||
一种用于为成像装置提供尺寸可变的孔径的设备(19)包含第一板(22)和第二板(30),所述第一板具有延伸穿过所述第一板的第一多个板孔径(24),所述第二板具有延伸穿过所述第二板的第二多个板孔径(32)。第一电动机(20)可操作地连接到所述第一板,且第二电动机(26)可操作地连接到所述第二板。所述第一和第二电动机被配置成使所述第一板和所述第二板相对于彼此移动,以使所述第一多个板孔径中的任一者与所述第二多个板孔径中的任一者对准,以限定多个光束孔径。
本申请要求2017年7月14日提交的美国临时专利申请号62/532,522的权益。本申请的内容以全文引用的方式并入本文中。
技术领域
本发明的各方面大体上涉及一种装置,所述装置提供用于通过红外光谱分析样品的尺寸可变的孔径。
背景技术
研发出傅里叶变换红外(FTIR)光谱测定法以解决色散光谱测定技术(尤其是缓慢扫描过程)的限制。使用FTIR,可用被称为干涉仪的简单光学装置同时而不是分别测量所有红外(IR)频率。干涉仪产生唯一信号,所述信号含有在其内“经编码”的所有IR频率。可极快速地(例如在大约一秒内)测量这一信号,由此将每个样品的时间元素减小到大约仅几秒而不是几分钟。
大多数干涉计采用分束器,其接收进入的IR束且将其分成两个光学束。一束由固定在适当位置的平面反射镜反射。另一束由受控以在短距离(例如几毫米)上来回移动的可移动平面反射镜反射。所得的两个反射束在其在分束器处汇合时重新组合。
当仅要分析样品的一部分时,可以使用孔径来控制红外光束的尺寸和形状。可以使用可变的孔径,以便能够改变孔径的尺寸和形状以对应于要观察的样品区域的尺寸和形状。一些装置使用可变孔径装置,所述可变孔径装置包含由电动机和齿轮控制的四个夹钳,所述四个夹钳一起工作以提供具有变化的尺寸和形状的孔径。
希望提供一种装置,所述装置提供减少或克服先前已知过程中固有的一些或全部困难的尺寸可变的孔径。考虑到本发明的以下公开内容和某些实施例的详细描述,特定的目的和优点对于本领域技术人员(即,在所述技术领域中具有知识或经验的人员)将是显而易见的。
发明内容
根据第一方面,一种用于为成像装置提供尺寸可变的孔径的设备包含:第一板,其具有延伸穿过其的第一多个板孔径;和第二板,其具有延伸穿过其的第二多个板孔径。第一电动机可操作地连接到第一板,且第二电动机可操作地连接到第二板。第一电动机和第二电动机被配置成使第一板和第二板相对于彼此移动,以使第一多个板孔径中的任一者与第二多个板孔径中的任一者对准,以限定多个光束孔径。
根据另一个方面,一种成像装置包含IR源、定位在IR源的下游的准直器、定位在准直器的下游的干涉仪,和定位在干涉仪的下游的样品室。检测器被定位在所述样品室的下游且孔径控制组件被定位在样品室与检测器之间。孔径控制组件包含具有延伸穿过第一板的第一多个板孔径的第一板和具有延伸穿过第二板的第二多个板孔径的第二板。第一电动机可操作地连接到第一板,且第二电动机可操作地连接到第二板。第一电动机和第二电动机被配置成使第一板和第二板相对于彼此移动,以使第一多个板孔径中的任一者与第二多个板孔径中的任一者对准,以限定多个光束孔径。
根据其它方面,成像装置可包含连接到第一电动机和第二电动机以及检测器的控制器。成像装置还可包含分束器和监视器,以允许用户查看待分析的样品区域。
从某些实施例的以下详细公开内容中,将进一步理解这里公开的这些和另外的特征和优点。
附图说明
图1是使用形成尺寸可变的孔径的第一和第二板的FTIR光谱仪装置的示意图。
图2是图1的装置的第一板的实施例的平面图。
图3是图1的装置的第二板的实施例的平面图。
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