[发明专利]相位对比成像方法在审
申请号: | 201880046584.2 | 申请日: | 2018-07-02 |
公开(公告)号: | CN110868933A | 公开(公告)日: | 2020-03-06 |
发明(设计)人: | R.内博西斯;P.莱布兰斯 | 申请(专利权)人: | 爱克发有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G06T7/00;G06T11/00;H04N5/335;G21K1/02;G21K1/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;申屠伟进 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 对比 成像 方法 | ||
1.一种用于生成样本的吸收图像、相位图像和暗场图像中的至少一个的方法,包括:
a)将由x射线源发射的辐射射束应用到射束拆分器格栅以便拆分射束;
b)将样本引入到在射束拆分器格栅与x射线检测器之间的经拆分的射束中;
c)借助于x射线检测器来测量通过所述样本被调制的光强度分布,
d)根据由所述x射线检测器检测的像素的总数目的不同集合来计算吸收图像、相位图像和暗场图像中的至少一个,其特征在于,所述集合如下来被获得:通过实际上利用具有开/关位置的虚拟掩模而叠覆从曝光的检测器读出的像素矩阵,以及通过使用由虚拟掩模的“开”位置所覆盖的像素来填入第一集合并且相对于像素矩阵来使所述虚拟掩模移位以获得另外的集合。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述射束拆分器格栅定位是固定的,并且其中设想两个像素的群组,并且通过每次对所述两个像素的值进行装仓来计算吸收子图像、相位子图像和暗场子图像,并且由此使所述虚拟掩模按一个像素移位。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述射束拆分器格栅与所述检测器的平面平行地、按给定的(一个或多个)距离被移动至少一次,所述检测器在射束拆分器格栅的每个定位处被曝光,并且权利要求1的步骤(c)和(d)在所述射束拆分器格栅的每个定位处重复以便获得多个吸收、相位和暗场图像。
4.根据权利要求3所述的方法,其中通过分别地融合所述吸收图像、所述相位图像和所述暗场图像来生成全相位对比图像。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述像素集合具有平移对称性。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述虚拟掩模具有2个像素的节距以及50/50的开/关比。
7.根据权利要求6所述的方法,其中所述射束拆分器格栅被移动到各自被均等地间隔的3个定位,并且利用中心定位中的射束拆分器格栅所生成的图像对应于虚拟掩模的“开”定位。
8.根据权利要求6所述的方法,其中所述射束拆分器格栅被移动到各自按像素节距的¼而被间隔的4个定位,并且第二图像中利用射束拆分器所生成的图像对应于第一虚拟掩模的“开”定位,并且虚拟掩模被交换使得射束拆分器格栅的第4定位对应于第二经交换的虚拟掩模的“开”定位。
9.根据权利要求5所述的方法,其中所述虚拟掩模具有4个像素的节距,并且射束拆分器格栅是静止的,并且通过使虚拟掩模按1个像素移位2次来计算所述吸收图像、相位图像和暗场图像。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述射束拆分器格栅被移动到按两个像素的大小除以射束拆分器格栅的放大率M而被间隔的2个定位,并且通过对于拆分器格栅的每个定位而使虚拟掩模按1个像素移位2次来计算针对射束拆分器格栅的每个定位的吸收子图像、相位子图像和暗场子图像。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述拆分器格栅被移动到按一像素的大小除以射束拆分器格栅的放大率M而被间隔的4个定位,并且通过对于射束拆分器格栅的每个定位而使虚拟掩模按1个像素移位2次来计算吸收子图像、相位子图像和暗场子图像。
12.根据权利要求5所述的方法,其中虚拟掩模具有2n个像素的节距(n=整数),并且拆分器格栅被移动到按m个像素除以放大率M而被间隔的n个定位,其中m是整数并且m < n,并且通过对于射束拆分器格栅的每个定位而使虚拟掩模按p个像素(1 < p < n:p是整数)移位2次来计算吸收子图像、相位子图像和暗场子图像。
13.根据权利要求8至12之一所述的方法,其中所述吸收子图像、相位子图像和暗场子图像被融合。
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