[发明专利]X射线相位差摄影系统以及相位对比度图像修正方法有效
申请号: | 201880046853.5 | 申请日: | 2018-09-18 |
公开(公告)号: | CN110913764B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 白井太郎;木村健士;土岐贵弘;佐野哲;堀场日明;森本直树 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 薛恒;王琳 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 相位差 摄影 系统 以及 相位 对比度 图像 修正 方法 | ||
1.一种X射线相位差摄影系统,包括:
X射线源;
多个光栅,包含从所述X射线源被照射有X射线的第一光栅、及被照射有来自所述第一光栅的X射线的第二光栅;
检测器,检测从所述X射线源照射的X射线;以及
图像处理部,根据由所述检测器所检测的X射线图像而生成相位对比度图像,并且
所述图像处理部构成为:
获取未配置被摄体而在所述X射线相位差摄影系统的启动时拍摄的第一X射线图像,并且在获取所述第一X射线图像后,获取未配置被摄体而拍摄的第二X射线图像及配置被摄体而拍摄的第三X射线图像,
利用以拍摄所述第二X射线图像与拍摄所述第三X射线图像的时间间隔短于拍摄所述第一X射线图像与拍摄所述第三X射线图像的时间间隔的方式所拍摄的所述第一X射线图像及所述第二X射线图像,来再建第一相位对比度图像,
利用所述第一X射线图像及所述第三X射线图像来再建第二相位对比度图像,
基于所述第一相位对比度图像来修正所述第二相位对比度图像的伪影,其中
所述第二X射线图像是在即将拍摄所述第三X射线图像前或刚拍摄所述第三X射线图像后,以短时间拍摄的图像,
拍摄所述第二X射线图像时的X射线的第一曝光时间,短于拍摄所述第一X射线图像时的X射线的第二曝光时间。
2.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,其中
所述第一曝光时间为可拍摄能够辨识伪影的倾向的像质的所述第二X射线图像的规定时间。
3.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,还包括:
存储部,保存所述第一X射线图像,且
所述图像处理部构成为:使用保存于所述存储部的所述第一X射线图像来再建所述第一相位对比度图像及所述第二相位对比度图像。
4.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,其中
相位对比度图像的伪影为所述第一相位对比度图像及所述第二相位对比度图像中产生的渐层状的伪影,所述相位对比度图像的伪影是由伴随时间经过的拍摄条件的变化导致产生的伪影,所述拍摄条件的变化是所述多个光栅的相对位置在各X射线图像的拍摄间变化。
5.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,其中
所述图像处理部构成为:使用至少含有一次函数或二次函数的多项式,获取反映出所述第一相位对比度图像的伪影的修正数据。
6.根据权利要求5所述的X射线相位差摄影系统,其中
所述图像处理部构成为:基于所述第一相位对比度图像的多个区域的像素值,来获取反映出所述第一相位对比度图像的伪影的修正数据。
7.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,其中
所述图像处理部构成为:至少通过包含平滑滤波器或低通滤波器的滤波处理而获取反映出所述第一相位对比度图像的伪影的修正数据。
8.根据权利要求1所述的X射线相位差摄影系统,其中
所述多个光栅还包含:第三光栅,配置在所述X射线源与所述第一光栅之间。
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