[发明专利]用于识别关于基于模型的控制器性能的可变性或控制偏差的影响和原因的装置和方法

权利要求书

1.一种方法，包括：

获得(504)识别与工业过程控制器(106)相关联的一个或多个受控变量的值的数据；

识别(506)所述一个或多个受控变量中的至少一个受控变量已被所述控制器移动到相关联限制时的周期；

针对每个所识别周期，(i)识别(510)所述相关联受控变量的预测值的标准差，以及(ii)基于所述标准差确定(512)所述相关联受控变量的控制偏差值，所述控制偏差值与所述相关联受控变量的平均值和所述相关联限制之间的偏移相关联；

使用所述控制偏差值识别(516)所述一个或多个受控变量的方差；以及

生成(520)识别所述方差中的至少一些方差的一个或多个影响或原因的图形显示(1100,1200,1300)。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

在识别所述周期之前验证(504)所述获得的数据；

其中验证所述获得的数据包括移除所述数据中被视为无效的一部分。

3.根据权利要求2所述的方法，其中验证所述获得的数据包括使用与所述控制器相关联的优化器所生成的预测来识别有效或无效数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其中识别所述周期包括当受控变量的值处于所述相关联限制时，将周期的开始识别为第一时间或间隔；以及

当所述受控变量的所述值不处于所述相关联限制时，将所述周期的结束识别为第一时间或间隔。

5.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定(538)所述方差中的所述至少一些方差的所述一个或多个影响或原因。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述一个或多个影响或原因是基于所述控制偏差值与基准控制偏差值的比较来确定的。

7.根据权利要求5所述的方法，其中确定所述一个或多个影响或原因包括：

识别与所述一个或多个受控变量中的每一个受控变量相关联的多个自变量；以及

识别所述自变量中的每一个自变量的标准差，每个标准差表示所述自变量对所述相关联受控变量的所述方差的贡献的量度。

8.一种装置，包括：

至少一个界面(206)，所述至少一个界面被配置为接收识别与工业过程控制器(106)相关联的一个或多个受控变量的值的数据；以及

至少一个处理器(202)，所述至少一个处理器被配置为：

识别所述一个或多个受控变量中的至少一个受控变量已被所述控制器移动到相关联限制时的周期；

针对每个所识别周期，(i)识别所述相关联受控变量的预测值的标准差，以及(ii)基于所述标准差确定所述相关联受控变量的控制偏差值，所述控制偏差值与所述相关联受控变量的平均值和所述相关联限制之间的偏移相关联；

使用所述控制偏差值识别所述一个或多个受控变量的方差；并且

生成识别所述方差中的至少一些方差的一个或多个影响或原因的图形显示(1100,1200,1300)。

9.根据权利要求8所述的装置，其中：

所述至少一个处理器被配置为在识别所述周期之前验证所述数据；并且

为了验证所述数据，所述至少一个处理器被配置为移除所述数据中被视为无效的一部分。

10.根据权利要求9所述的装置，其中为了验证所述数据，所述至少一个处理器被配置为使用与所述控制器相关联的优化器所生成的预测来识别有效或无效数据。