[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201880048889.7 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN110998810B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 河野宪司 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L21/337 分类号: H01L21/337;H01L21/338;H01L29/06;H01L29/78;H01L29/808;H01L29/812
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 吕文卓
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具有形成有结型FET(10)的第1半导体芯片(100)和形成有MOSFET(20)的第2半导体芯片(200),其特征在于,

具备:

上述第1半导体芯片,形成有上述结型FET;

上述第2半导体芯片,形成有上述MOSFET;以及

结型FET用调整电阻(42),配置在上述结型FET的栅极电极(13)与上述MOSFET的源极电极(21)之间;

上述结型FET的源极电极(11)和上述MOSFET的漏极电极(22)电连接从而上述结型FET和上述MOSFET被级联连接;

上述结型FET用调整电阻具有接通动作用的第1电阻电路(421)及断开动作用的第2电阻电路(422);

半导体装置还具有:

对置配置的下侧热沉(601)及上侧热沉(604);以及

模塑树脂(400),将上述第1半导体芯片及上述第2半导体芯片封固;

上述第1半导体芯片及上述第2半导体芯片被层叠配置在上述下侧热沉与上述上侧热沉之间;

上述模塑树脂,在上述下侧热沉及上述上侧热沉中的与上述第1半导体芯片及上述第2半导体芯片侧相反侧的部分露出的状态下,将上述第1半导体芯片及上述第2半导体芯片封固;

上述第1半导体芯片,与上述第2半导体芯片相比,平面形状更小;

在上述第1半导体芯片与上述第2半导体芯片之间,在上述第1半导体芯片侧,配置有与上述第1半导体芯片连接并且与上述第1半导体芯片的平面形状对应的形状的间隔件(608),在上述间隔件与上述第2半导体芯片之间,配置有与上述第2半导体芯片连接并且与上述第2半导体芯片的平面形状对应的形状的金属块(603)。

2.如权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

具备将上述第1半导体芯片及上述第2半导体芯片封固的模塑树脂(400);

上述结型FET用调整电阻以从上述模塑树脂露出的状态配置。

3.如权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

上述第1电阻电路具有第1二极管(421a)和第1电阻(421b),上述第1二极管和上述第1电阻被串联地连接;

上述第2电阻电路具有第2二极管(422a)和第2电阻(422b),上述第2二极管和上述第2电阻被串联地连接;

上述第1电阻电路及上述第2电阻电路以使上述第1二极管的阴极及上述第2二极管的阳极与上述结型FET的栅极电极相连接的方式并联地连接。

4.如权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

具有配置在上述MOSFET的栅极电极(23)与栅极驱动电路(51)之间的MOSFET用调整电阻(41);

上述MOSFET用调整电阻具有接通动作用的第3电阻电路(411)及断开动作用的第4电阻电路(412)。

5.如权利要求4所述的半导体装置,其特征在于,

上述第3电阻电路具有第3二极管(411a)和第3电阻(411b),上述第3二极管和上述第3电阻被串联地连接;

上述第4电阻电路具有第4二极管(412a)和第4电阻(412b),上述第4二极管和上述第4电阻被串联地连接;

上述第3电阻电路及上述第4电阻电路以使上述第3二极管的阴极及上述第4二极管的阳极与上述MOSFET的栅极电极相连接的方式被并联地连接。

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