[发明专利]具有多种检测能力的集成样品处理系统有效

专利信息
申请号: 201880049114.1 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN110959185B 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 阿伦·胡德松;水谷高雪;苏巴西什·普尔卡亚斯塔;托马斯·W·罗斯科 申请(专利权)人: 拜克门寇尔特公司;DH科技发展私人贸易有限公司
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;G01N33/68;G01N35/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 陈炜;杨林森
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 多种 检测 能力 集成 样品 处理 系统
【权利要求书】:

1.一种样品处理系统,包括:

分析器,所述分析器包括免疫分析器或化学分析器;

质谱仪;

至少一个样品制备站,所述至少一个样品制备站用于接收初级样品并且可操作以将来自所述初级样品的第一样品等分试样分配到第一反应容器以进行处理以产生第一处理样品以供所述分析器分析,并且将第二样品等分试样分配到第二反应容器以进行处理以产生第二处理样品以供所述质谱仪分析;

所述分析器被配置为从所述至少一个样品制备站接收所述第一处理样品,并且对所述第一处理样品执行初级分析;

至少一个样品引入设备,所述至少一个样品引入设备用于从所述第二处理样品等分试样接收所述第二处理样品,并且将所述第二处理样品转移到所述质谱仪以进行质量分析;

控制系统,所述控制系统被配置为控制所述至少一个样品制备站以将所述初级样品处理成所述第一处理样品和所述第二处理样品,以使所述分析器从所述第一样品等分试样接收所述第一处理样品并且对所述第一处理样品执行初级分析,使所述至少一个样品引入设备从所述第二样品等分试样接收所述第二处理样品并且将所述第二处理样品转移到所述质谱仪,并且使所述质谱仪对所述第二处理样品执行质量分析,以检测所述第二处理样品中特定分析物的存在、不存在和/或数量。

2.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述至少一个样品制备站包括用于与所述分析器一起使用的第一样品制备站以及用于与所述质谱仪一起使用的第二样品制备站。

3.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述第一处理样品在存在发光或荧光标签的情况下制备以结合到分析物分子,并且其中所述分析器还包括光学检测站,用于通过检测由所述标签产生的光来检测所述分析物分子。

4.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述至少一个样品制备站包括:

样品展示单元,所述样品展示单元被配置为保持各自容纳所述初级样品的多个样品管;和

等分试样站,所述等分试样站被配置为将来自所选样品管的样品的一部分等分成所述第一样品等分试样和所述第二样品等分试样,所述等分试样站包括:至少一个移液器;用于保持至少第一试剂包和第二试剂包的装置,所述第一试剂包包含用于由所述分析器执行免疫测定或化学测定的试剂,所述第二试剂包包含用于由所述质谱仪执行质量分析的试剂;以及用于将试剂从所述第一试剂包转移到所述第一样品等分试样的装置和用于将试剂从所述第二试剂包转移到所述第二样品等分试样的装置。

5.根据权利要求4所述的样品处理系统,其中所述第一试剂包和所述第二试剂包中的至少一个包含试剂,所述试剂包含选自质量标签、发光标签、化学发光标签、电化学发光标签、荧光标签、放射性标签、同位素标签或DNA标签的标签。

6.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述至少一个样品引入设备包括小体积阱和洗脱系统,所述小体积阱和洗脱系统可操作以在洗脱到所述质谱仪中之前浓缩所关注的分析物;以及微分迁移光谱仪,所述微分迁移光谱仪用于在电离之后但在通过所述质谱仪进行质量分析之前分离同质异位或同分异构化合物。

7.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述至少一个样品引入设备包括用于从所述第二样品等分试样接收所述第二处理样品的开放端口采样接口。

8.根据权利要求1所述的样品处理系统,其中所述质量分析包括次级分析,并且其中所述控制系统进一步可操作以从所述初级分析确定所述第一处理样品中的分析物的浓度是低于、高于还是等于预定阈值,并且基于所述确定:

使所述至少一个样品制备站产生所述第二处理样品,使所述样品引入设备将所述第二处理样品转移到所述质谱仪,

使所述质谱仪执行次级分析以检测和/或定量所述第二处理样品中的所述分析物或另一种分析物;并且

基于所述初级分析和所述次级分析中的至少一个生成报告。

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