[发明专利]阻抗受控的测试插座

说明书

本发明公开了一种用于电连接器组件的方法、系统和装置。所述组件包括限定信号腔的插座，该插座具有第一插座开口和第二插座开口。所述组件包括位于信号腔内的信号接触探针。所述信号接触探针包括第一柱塞，所述第一柱塞容纳在所述壳体腔中并且延伸穿过第一壳体开口并位于所述第一插座开口中。所述信号接触探针包括第二柱塞，所述第二柱塞容纳在所述壳体腔中并延伸穿过第二壳体开口并位于所述第二插座开口中。所述组件包括位于所述第二插座开口中并且围绕所述第二柱塞的端部绝缘环，所述端部绝缘环被配置为有助于通过所述信号接触探针实现基本恒定的阻抗，并且被配置成限制所述第二柱塞在所述第二插座开口内的横向运动。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年5月26日提交的题为“阻抗受控的测试插座”的美国临时申请62/511839的权益和优先权，其全部内容通过引用合并于此。

发明领域

本说明书涉及阻抗受控的测试插座。

背景技术

在电子和半导体工业中，用于测试集成电路半导体芯片的系统(或插座)可称为测试系统(或测试插座)。测试系统可以包括插座主体和限定多个腔的插座保持器。每个腔可以容纳接触器，该接触器可以是弹簧探针。常规上，有两种方法可用于维持测试系统中的信号完整性—使用相对较短的接触器或将同轴结构用于测试系统。短接触器可能具有顺应性小的缺点，这可能会限制其在大尺寸集成电路封装中的应用。当执行高频集成电路封装测试时，可将同轴结构用于测试系统。

发明内容

本文描述了电接触器组件(或测试系统)。该电接触器组件包括限定信号腔的插座，所述插座具有位于第一插座端的第一插座开口和位于与所述第一插座端相对的第二插座端的第二插座开口。电接触器组件还包括位于信号腔内的信号接触探针。信号接触探针包括壳体，该壳体具有限定壳体腔的主体，所述壳体具有位于所述壳体的第一端的第一壳体开口和位于所述壳体的与所述壳体的所述第一端相对的第二端的第二壳体开口。信号接触探针还包括第一柱塞(plunger)，所述第一柱塞容纳在所述壳体腔中并且延伸穿过所述第一壳体开口并定位于所述第一插座开口中。信号接触探针还包括第二柱塞，所述第二柱塞容纳在所述壳体腔中并延伸穿过所述第二壳体开口并位于所述第二插座开口中。电接触器组件包括端部绝缘环，所述端部绝缘环定位于所述第二插座开口中并且围绕所述第二柱塞，所述端部绝缘环被配置为有助于通过所述信号接触探针实现基本恒定的阻抗，并且被配置为限制所述第二柱塞在所述第二插座开口内的横向运动。

本文描述了电接触器组件。该电接触器组件包括限定信号腔的插座，所述插座具有位于第一插座端的第一插座开口和位于与所述第一插座端相对的第二插座端的第二插座开口，所述信号腔具有内表面。电接触器组件还包括位于信号腔内的信号接触探针。信号接触探针包括壳体，所述壳体具有限定壳体腔的主体，所述壳体具有位于所述壳体的第一端的第一壳体开口和位于所述壳体的与所述壳体的所述第一端相对的第二端的第二壳体开口。信号接触探针还包括第一柱塞，所述第一柱塞容纳在所述壳体腔中并且延伸穿过所述第一壳体开口并定位于所述第一插座开口中。信号接触探针还包括第二柱塞，所述第二柱塞容纳在所述壳腔中并延伸穿过所述第二壳体开口并位于所述第二插座开口中。电接触器组件包括由介电材料制成的绝缘套管，所述绝缘套管基本上占据所述信号接触探针和所述信号腔的内表面之间的所述信号腔内的整个空间，使得所述信号接触探针和所述绝缘套管基本上占据所述信号腔，所述绝缘套管与所述第一柱塞、所述第二柱塞和所述壳体接触，并配置为有助于通过所述信号接触探针实现基本恒定的阻抗。