[发明专利]用于测量废气中的氮氧化物和二氧化硫的气体分析仪

权利要求书

1.一种气体分析仪，用于测量废气(1)中的氮氧化物和二氧化硫，所述气体分析仪具有：

-在350nm与500nm之间的近紫外范围中照射的第一发光二极管(2)；

-在250nm与300nm之间的中紫外范围中照射的第二发光二极管(4)；

-由所述废气(1)穿流的且由所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光透射的第一测量室(13)，

-检测在透射所述测量室(13)之后的所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光的第一检测器(14)，所述第一检测器产生第一检测器信号(29)，所述第一检测器信号具有由所述第一发光二极管(2)的光得到的第一信号分量和由所述第二发光二极管(4)的光得到的第二信号分量，

-评估装置(32)，所述评估装置由所述第一信号分量测定所述第一测量室(13)中的所述废气的二氧化氮浓度并且由所述第二信号分量测定所述第一测量室中的所述废气的二氧化硫浓度，和

-氧化装置(23)，所述氧化装置构成用于利用臭氧处理所述废气(1)，以使包含在所述废气(1)中的一氧化氮转化为二氧化氮，其特征在于，

-在所述氧化装置(23)处连接有第二测量室(16)，所述第二测量室由经处理的废气穿流，而所述第一测量室(13)由未处理的废气穿流，

-分束器装置(10)，使所述第一发光二极管(2)的光的一部分分路穿过所述第二测量室(16)射到第二检测器(17)上，所述第二检测器产生具有由所述第一发光二极管(2)的光得到的第一信号分量的第二检测器信号(30)，

-所述评估装置(32)还由所述第二检测器信号(30)的第一信号分量测定所述第二测量室(16)中的所述废气(1)的二氧化氮浓度并且将该二氧化氮浓度作为所述废气(1)的氮氧化物浓度输出，并且将在所述第一测量室(13)和所述第二测量室(16)中测定的二氧化氮浓度的差作为一氧化氮浓度输出，且

-所述气体分析仪设有在760nm至765nm的波长范围中照射的窄带光源(43)，所述窄带光源的光(44)从所述分束器装置(10)被引导穿过所述第一测量室(13)和所述第二测量室(16)射到所述第一检测器(14)和所述第二检测器(17)上并且得到所述第一检测器信号(29)和所述第二检测器信号(30)的另外信号分量，并且所述评估装置(32)由所述第一检测器信号(29)的另外信号分量测定所述第一测量室(13)中的未处理的废气的氧浓度并且由所述第二检测器信号(30)的另外信号分量测定所述第二测量室(16)中的已处理的废气的氧浓度，并且根据所测定的两个氧浓度来监控在所述氧化装置(23)中的从一氧化氮到二氧化氮的转化。

2.根据权利要求1所述的气体分析仪，其特征在于，所述窄带光源(43)包括波长可调谐的激光二极管或具有后置滤波器的发光二极管。

3.根据权利要求1或2所述的气体分析仪，其特征在于，所述第一测量室(13)和所述第二测量室(16)构成为多程池，所述多程池具有高反射的凹面镜(131、132、161、162)，并且所述凹面镜对于所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的波长来说是可穿透的。

4.根据权利要求1所述的气体分析仪，其特征在于，所述分束器装置(10)构成用于，使所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光的一部分分路到基准检测器(15)上，所述基准检测器产生基准信号(31)，所述基准信号具有由所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光得到的基准信号分量，并且所述评估装置(32)将所述第一检测器信号(29)和所述第二检测器信号(30)的信号分量利用所属的基准信号分量进行基准化。

5.根据权利要求1所述的气体分析仪，其特征在于，所述分束器装置(10)构成用于，使所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光的一部分分路到基准检测器(15)上以及使所述窄带光源(43)的光的一部分分路到基准检测器上，所述基准检测器产生基准信号(31)，所述基准信号具有由所述第一发光二极管(2)和所述第二发光二极管(4)的光和由所述窄带光源(43)的光得到的基准信号分量，并且所述评估装置(32)将所述第一检测器信号(29)和所述第二检测器信号(30)的信号分量利用所属的基准信号分量进行基准化。