[发明专利]测量废气中的氮氧化物和至少一种其他成分的气体分析仪

权利要求书

1.一种用于测量废气(1)中的氮氧化物和至少一种其他成分的气体分析仪，具有

-氧化装置(7)，所述氧化装置具有臭氧发生器、位于排气路径中的反应室(9)以及在所述排气路径中位于反应室下游的加热室(10)，所述氧化装置构造用于在所述反应室(9)中利用生成的臭氧处理所述废气(1)，从而将一氧化氮转化成二氧化氮，并且在所述加热室(10)中将氮氧化物和多余的臭氧热分解成二氧化氮和氧，以及

-在所述排气路径中位于所述氧化装置(7)下游的光度计(12)，所述光度计构造用于，根据在已处理的废气(1”)中在350nm与500nm之间的近紫外范围内的光吸收，确定二氧化氮浓度并且将二氧化氮浓度作为未处理的废气(1)的氮氧化物浓度输出，

其特征在于，

-所述臭氧发生器包括布置在所述反应室(9)中的紫外光源(8)，所述紫外光源使废气(1)的剩余氧含量生成臭氧，并且

-在所述反应室(9)与所述加热室(10)之间的所述排气路径中布置有其他光度计(14)，所述其他光度计构造用于，根据在部分处理的废气(1’)中在220nm与300nm之间的中紫外范围内的光吸收，确定部分处理的废气的臭氧浓度并且将该臭氧浓度作为未处理的废气(1)的氧浓度输出。

2.根据权利要求1所述的气体分析仪，其特征在于，所述光度计(12)和所述其他光度计(14)分别具有由废气(1”、1’)穿流的测量室(21；41)、发光的第一发光二极管(22)和第三发光二极管(40)、探测器(30；42)、基准探测器(31；46)、评估装置(36)和分束器(27；44)，所述分束器构造用于引导所述第一发光二极管(22)和所述第三发光二极管(40)的一部分光穿过所述测量室(21；41 )投射到所述探测器(30；42 )上并引导另一部分光投射到所述基准探测器(31；46)上，并且所述评估装置(36)使得探测器信号(34；43)以基准信号(35；47)为基准。

3.根据权利要求2所述的气体分析仪，其特征在于，所述光度计(12)还构造用于，根据废气(1”)中在250nm与300nm之间的中紫外范围内的光吸收确定并输出废气(1)的二氧化硫浓度。

4.根据权利要求3所述的气体分析仪，其特征在于，

-所述光度计(12)具有第二发光二极管(23)，所述第二发光二极管产生在350nm与500nm之间的中紫外范围内的光，

-所述分束器(27)构造用于，引导所述第二发光二极管(23)的一部分光穿过所述测量室(21)投射到所述探测器(30)上，并引导另一部分光投射到所述基准探测器(31)上，

-设有控制装置(26)，所述控制装置不同地驱控所述第一发光二极管(22)和所述第二发光二极管(23)，从而所述探测器信号(34)和所述基准信号(35)分别包含由所述第一发光二极管(22)的光和由所述第二发光二极管(23)的光得到的不同的信号分量，并且

-所述评估装置通过所述探测器信号(34)的由所述第一发光二极管(22)的光得到的信号分量确定二氧化氮浓度，并且通过由所述第二发光二极管(23)的光得到的信号分量确定废气(1”)的二氧化硫浓度。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的气体分析仪，其特征在于，所述光度计(12)和所述其他光度计(14)具有两个相互通信的评估装置或者一个共同的评估装置(36)，所述评估装置构造用于利用废气(1”)的所确定的二氧化氮浓度校正废气(1”)的所确定的二氧化硫浓度相对于二氧化氮的交叉敏感性。

6.根据权利要求5所述的气体分析仪，其特征在于，所述评估装置(36)构造用于，利用废气(1”)的所确定的二氧化硫浓度校正废气(1’)的所确定的臭氧浓度相对于二氧化硫的交叉敏感性。

7.根据权利要求2至4中任一项所述的气体分析仪，其特征在于，设有可控制的旁路(19)以用于旁路所述氧化装置(7)，所述光度计(12)在所述旁路(19)被激活时测量在未处理的废气(1)中的二氧化氮浓度，并且输出与针对已处理的废气(1”)确定的二氧化氮浓度之差以作为未处理的废气(1)的一氧化氮浓度。

8.根据权利要求7所述的气体分析仪，其特征在于，所述评估装置(36)构造用于，利用未处理的废气(1)的所确定的一氧化氮浓度校正由所述其他光度计(14)提供的、未处理的废气(1)的臭氧浓度或氧浓度的结果(15)。