[发明专利]压力测定装置和压力测定方法

权利要求书

1.一种压力测定装置，利用张力测量法对测定对象物的内压进行测定，所述测定对象物包括被流体充满的内部空间和具有能够弹性变形的弯曲面的表层，

所述压力测定装置的特征在于，包括：

具备隔膜和压敏元件的压力传感器；

按压单元，将所述压力传感器按压于所述测定对象物；以及

控制单元，进行各种运算并控制装置的工作，

以在所述测定对象物的表层产生平坦部的方式将所述压力传感器按压于所述测定对象物的状态下，在所述隔膜产生位移的情况下，所述控制单元获取所述压力传感器与所述测定对象物的接触面处的所述隔膜的法线方向的位移值，并且基于获取的所述位移值来排除作用于所述测定对象物的张力影响。

2.根据权利要求1所述的压力测定装置，其特征在于，

包括隔膜的弹性各自不同的多个所述压力传感器，

所述控制单元获取多个所述压力传感器中的所述隔膜的法线方向的位移值，并且使用获取的多个所述位移值和获取各所述位移值时的压力传感器的输出值，算出排除了作用于所述测定对象物的张力影响的内压测定值。

3.根据权利要求1所述的压力测定装置，其特征在于，

所述按压单元以不同的按压力多次将所述压力传感器按压于所述测定对象物，

所述控制单元分别针对所述不同的按压力的多次按压获取所述隔膜的法线方向的位移值，并且使用获取的多个所述位移值和获取各所述位移值时的压力传感器的输出值，算出排除了作用于所述测定对象物的张力影响的内压测定值。

4.根据权利要求1所述的压力测定装置，其特征在于，

所述压力传感器还包括具备所述隔膜的面成为壁的一部分的密闭空间，

所述压力测定装置包括：

传感器内压获取单元，获取所述密闭空间内的压力；以及

传感器内压调整单元，对所述密闭空间内进行加压和减压，

在所述压力传感器被按压于所述测定对象物的状态下，所述控制单元以使所述隔膜的法线方向的位移值为0的方式调整所述密闭空间内的压力，并且通过将所述位移值为0的状态的所述密闭空间内的压力值作为所述测定对象物的内压值，来排除作用于所述测定对象物的张力影响。

5.根据权利要求1所述的压力测定装置，其特征在于，

所述压力传感器还包括具备所述隔膜的面成为壁的一部分的密闭空间，

所述压力测定装置包括：

传感器内压获取单元，获取所述密闭空间内的压力；以及

传感器内压调整单元，对所述密闭空间内进行加压和减压，

在所述压力传感器被按压于所述测定对象物的状态下，所述传感器内压调整单元以不同的压力多次施加内压，所述控制单元分别针对所述不同的压力的多次施加压力获取所述隔膜的法线方向的位移值，并且使用获取的多个所述位移值和获取各所述位移值时的所述密闭空间内的压力值，算出排除了作用于所述测定对象物的张力影响的内压测定值。

6.一种压力测定方法，使用具备隔膜和压敏元件的压力传感器并利用张力测量法对测定对象物的内压进行测定，所述测定对象物包括被流体充满的内部空间和具有能够弹性变形的弯曲面的表层，

所述压力测定方法的特征在于，包括：

变形获取步骤，以在所述测定对象物的表层产生平坦部的方式将所述压力传感器按压于所述测定对象物的状态下，在所述隔膜产生位移的情况下，所述变形获取步骤获取所述压力传感器被按压于所述测定对象物的接触面处的所述隔膜的法线方向的位移值；以及

张力成分排除步骤，基于在所述变形获取步骤中获取的所述隔膜的法线方向的位移值，排除作用于所述测定对象物的张力影响。

7.根据权利要求6所述的压力测定方法，其特征在于，

在所述变形获取步骤中，获取所述隔膜的法线方向的多个位移值，

在所述张力成分排除步骤中，使用在所述变形获取步骤中获取的多个值和获取各值时的压力传感器的输出值，算出排除了作用于所述测定对象物的张力影响的内压测定值。