[发明专利]确定外部固定装置的调节处方的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201880054974.4 申请日: 2018-08-24
公开(公告)号: CN111031933A 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 迈克尔·马拉尼 申请(专利权)人: AMDT控股公司
主分类号: A61B17/00 分类号: A61B17/00;A61B17/60;A61B17/62;G06F30/20;G06T17/00;G16H50/50
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 美国田*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 确定 外部 固定 装置 调节 处方 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种确定固定到解剖结构的外部固定装置的调节处方的方法,包括:

获取所述外部固定装置和解剖结构在初始布置中的不同方向的至少两个数字放射线图像;

识别在至少两个放射线图像中的所述外部固定装置的基准标记;

识别在至少两个放射线图像中的所述解剖结构的轴线;

根据所识别的基准标记、所述至少两个放射线图像和所识别的解剖结构的轴线,提供所述外部固定装置和所述解剖结构的虚拟可操纵的三维模型;以及

基于用户确定的所述解剖结构的期望布置,提供所述外部固定装置的支柱组件的调节处方,所述调节处方通过至少一个用户选择的路径点将所述解剖结构从初始布置重新布置到期望布置,其中所述用户确定的所述解剖结构的期望布置是通过所述三维模型确定的。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述外部固定装置是六脚型外部固定装置。

3.根据权利要求1所述的方法,其中识别在至少两个放射线图像中的所述外部固定装置的基准标记包括,通过校正放射线图像的失真来为所述放射线图像中的每个基准单独创建按比例缩放的数字基准标记。

4.根据权利要求3所述的方法,其中校正放射线图像的失真包括:

确定以像素为单位的所述放射线图像中的基准标记的总和与所述外部固定装置的实际基准标记的尺寸的预期总和的比率,以确定以像素为单位的每个基准测量单位的图像的体积比例;

确定每个基准测量单位的像素与以像素为单位的所述放射线图像的每个图像测量单位的预期分辨率的比率;

确定所述放射线图像的体积比例;

根据所确定的体积比例缩放所述放射线图像;

在单个基准的基础上确定按体积缩放所确定的基准的尺寸与预期基准的尺寸的比率;以及

利用各个比率为所述放射线图像上的每个基准单独创建按比例缩放的数字基准标记。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法在计算机系统中实现。

6.一种计算机程序产品,包括:

一种计算机可读存储介质,存储用于执行的指令,以执行确定固定到解剖结构的外部固定装置的调节处方的方法,所述方法包括:

获取所述外部固定装置和解剖结构在初始布置中的不同方向的至少两个数字放射线图像;

识别在至少两个放射线图像中的所述外部固定装置的基准标记;

识别在至少两个放射线图像中的所述解剖结构的轴线;

根据所识别的基准标记、所述至少两个放射线图像和所识别的解剖结构的轴线,提供所述外部固定装置和所述解剖结构的虚拟可操纵的三维模型;以及

基于用户确定的所述解剖结构的期望布置,提供所述外部固定装置的支柱组件的调节处方,所述调节处方通过至少一个用户选择的路径点将所述解剖结构从初始布置重新布置到期望布置,其中所述用户确定的所述解剖结构的期望布置是通过所述三维模型确定的。

7.根据权利要求6所述的计算机程序产品,其中所述外部固定装置是六脚型外部固定装置。

8.根据权利要求6所述的计算机程序产品,其中识别在至少两个放射线图像中的所述外部固定装置的基准标记包括,通过校正放射线图像的失真,为所述放射线图像中的每个基准单独创建按比例缩放的数字基准标记。

9.根据权利要求8所述的计算机程序产品,其中校正放射线图像的失真包括:

确定以像素为单位的所述放射线图像中的基准标记的总和与所述外部固定装置的实际基准标记的尺寸的预期总和的比率,以确定以像素为单位的每个基准测量单位的图像的体积比例;

确定每个基准测量单位的像素与以像素为单位的所述放射线图像的每个图像测量单位的预期分辨率的比率;

确定所述放射线图像的体积比例;

根据所确定的体积比例缩放所述放射线图像;

在单个基准的基础上确定按体积缩放所确定的基准的尺寸与预期基准的尺寸的比率;和

利用各个比率为所述放射线图像上的每个基准点单独创建按比例缩放的数字基准标记。

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