[发明专利]粒子检测传感器

说明书

对测量对象中包含的多个粒子进行检测的粒子检测传感器(1)，具备：投光部(20)，向检测区域(DA)射出光；受光部(30)，在作为多个粒子的至少一个的对象粒子通过检测区域(DA)的情况下，接受由该对象粒子产生的光的散射光；壳体(10)，容纳投光部(20)以及受光部(30)，在内部具有检测区域(DA)；以及信号处理电路(50)，信号处理电路(50)，获得多个粒子没有通过检测区域(DA)时由受光部(30)接受的漫射光的受光强度的随时间的变化量，根据获得的随时间的变化量，校正散射光的受光强度，根据校正后的散射光的受光强度，将对象粒子分类为多个粒子尺寸的任一个，并且，确定检测出的对象粒子的个数，从而计算测量对象中包含的粒子的质量浓度。

技术领域

本发明涉及，粒子检测传感器。

背景技术

以往，具备投光元件以及受光元件，对测量对象中浮游的粒子进行检测，计算测量对象中包含的粒子的质量浓度的光电式的粒子检测传感器为人所知(例如，参照专利文献1)。光电式的粒子检测传感器，从投光元件向检测区域射出光，在粒子通过检测区域的情况下，由通过中的粒子产生的光的散射光由受光元件接受。根据散射光的受光强度求出粒子的大小，根据粒子的大小以及数量，计算测量对象中包含的粒子的质量浓度。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1：日本特开2015-210183号公报

然而，根据所述以往技术，粒子检测传感器的内部弄脏，例如，在粒子附着在投光元件以及受光元件的至少一方的情况下，本来应该向检测区域照射的光、以及本来应该向受光元件入射的散射光，由附着的粒子阻碍，分别减少。并且，也会有因附着的粒子而散射的光，且本来不应该向受光元件入射的光入射到受光元件的情况。在任何情况下，都成为粒子的大小的误检测的原因，检测准确度降低。

发明内容

于是，本发明的目的在于，提供能够高准确度地检测粒子的大小，能够高准确度地计算测量对象中包含的粒子的质量浓度的粒子检测传感器。

为了实现所述目的，本发明的一个形态涉及的粒子检测传感器，对测量对象中包含的多个粒子进行检测，具备：投光部，向检测区域射出光；受光部，在对象粒子通过所述检测区域的情况下，接受由该对象粒子产生的所述光的散射光，所述对象粒子是所述多个粒子的至少一个；壳体，容纳所述投光部以及所述受光部，在内部具有所述检测区域；以及信号处理电路，所述信号处理电路，获得所述多个粒子没有通过所述检测区域时由所述受光部接受的漫射光的受光强度的随时间的变化量，根据获得的随时间的变化量，校正所述散射光的受光强度，根据校正后的所述散射光的受光强度，将所述对象粒子分类为多个粒子尺寸的任一个，并且，确定检测出的对象粒子的个数，从而计算所述测量对象中包含的粒子的质量浓度。

根据本发明涉及的粒子检测传感器，即使在因经过时间而粒子检测传感器的内部弄脏的状态下，也能够高准确度地检测粒子的大小，能够高准确度地计算测量对象中包含的粒子的质量浓度。

附图说明

图1是实施方式涉及的粒子检测传感器的斜视图。

图2是实施方式涉及的打开粒子检测传感器的盖子时的斜视图。

图3是实施方式涉及的粒子检测传感器的截面图。

图4是用于说明实施方式涉及的粒子检测传感器的工作的放大截面图。

图5是示出图4示出的工作中从受光元件输出的电信号的图。

图6是用于说明实施方式涉及的粒子检测传感器的每个粒子的尺寸的分类的图。

图7是实施方式涉及的由粒子检测传感器检测出的粒子的直方图。

图8是用于说明实施方式涉及的粒子附着在粒子检测传感器的投光部以及受光部时的工作的放大截面图。