[发明专利]确定沉积物源位置有效
申请号: | 201880055228.7 | 申请日: | 2018-07-23 |
公开(公告)号: | CN111033317B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 尼古劳斯·A·米海尔;赫里斯托斯·萨拉吉奥提斯 | 申请(专利权)人: | 沙特阿拉伯石油公司 |
主分类号: | G01V99/00 | 分类号: | G01V99/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李博 |
地址: | 沙特阿拉*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 沉积物 位置 | ||
1.一种用于确定沉积物源位置的方法,所述方法包括:
对于地层间隔,接收从多个井获得的井数据;
基于接收的井数据确定所述多个井中的每一个的平均粒度;
在网格上绘制所述多个井中的每一个的位置,其中在所述网格上的多个点中的每个对应于潜在的颗粒源位置;
基于比较作为从所述多个点中的每个到所述多个井的距离的函数的粒度的指数衰减曲线的拟合优度来确定颗粒源在所述地层间隔中的位置,其中每个拟合的指数衰减曲线表示使用所述多个井中的每一个的平均粒度,通过对所述地层间隔的曲线拟合,从所述多个点中的每个到所述多个井的最佳拟合,并且所述曲线拟合确定所述多个点中的每个的初始粒度;以及
通过相对于所述颗粒源的位置评价将来的井位置,在所确定的将来的井位置处钻井。
2.根据权利要求1所述的方法,其中确定每个井的平均粒度包括确定在所述地层间隔中多个粒度等级中的每个粒度等级的比率。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述多个粒度等级中的每个粒度等级的比率基于该粒度等级的颗粒的总厚度除以所述地层间隔的总厚度来确定。
4.根据权利要求1所述的方法,所述方法还包括基于所述地层间隔的所述平均粒度来迭代地确定多个颗粒源位置,其中所述多个颗粒源位置包括所述颗粒源的位置。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个井包括至少三十个井。
6.一种非暂时性计算机可读介质,所述非暂时性计算机可读介质存储用于使处理器执行包括以下的操作的指令:
对于地层间隔,接收从多个井获得的井数据;
基于接收的井数据确定所述多个井中的每一个的平均粒度;
在网格上绘制所述多个井中的每一个的位置,其中在所述网格上的多个点中的每个对应于潜在的颗粒源位置;
基于比较作为从所述多个点中的每个到所述多个井的距离的函数的粒度的指数衰减曲线的拟合优度来确定颗粒源在所述地层间隔中的位置,其中每个拟合的指数衰减曲线表示使用所述多个井中的每一个的平均粒度,通过对所述地层间隔的曲线拟合,从所述多个点中的每个到所述多个井的最佳拟合,并且所述曲线拟合确定所述多个点中的每个的初始粒度;以及
确定通过相对于所述颗粒源的位置评价将来的井位置确定的将来的井位置,其中通过井眼钻孔组件在所述将来的井位置处钻井。
7.根据权利要求6所述的计算机可读介质,其中确定每个井的平均粒度包括确定在所述地层间隔中多个粒度等级中的每个粒度等级的比率。
8.根据权利要求7所述的计算机可读介质,其中所述多个粒度等级中的每个粒度等级的比率基于该粒度的颗粒的总厚度除以所述地层间隔的总厚度来确定。
9.根据权利要求6所述的计算机可读介质,其还包括基于所述地层间隔的所述平均粒度来迭代地确定多个颗粒源位置,其中所述多个颗粒源位置包括所述颗粒源的位置。
10.根据权利要求6所述的计算机可读介质,其中所述多个井包括至少三十个井。
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