[发明专利]含石墨烯膜的阴离子透过性评价方法和光电转换元件有效
申请号: | 201880056118.2 | 申请日: | 2018-09-13 |
公开(公告)号: | CN111183357B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 内藤胜之;信田直美;齐田穰 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝能源系统株式会社 |
主分类号: | G01N27/416 | 分类号: | G01N27/416;H01L51/50;H05B33/28 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 吴宗颐 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石墨 阴离子 透过 评价 方法 光电 转换 元件 | ||
1.评价含石墨烯膜的阴离子透过性的方法,其包括以下工序:
(i)准备具备含有阴离子的水溶液、含有金属银的工作电极、对电极和参比电极、并且其中所述工作电极、所述对电极和所述参比电极通过外部电路电连接的测量装置,
(ii)使所述工作电极、所述对电极和所述参比电极与所述水溶液接触,一边周期性地改变所述工作电极相对于所述对电极的电极电位一边进行扫描,测量金属银与阴离子的反应电流I0,
(iii)代替所述工作电极,使与所述工作电极电连接的含石墨烯膜与所述水溶液接触,其中所述工作电极与所述水溶液不直接接触,一边周期性地改变所述工作电极相对于所述对电极的电极电位一边进行扫描,测量金属银与阴离子的反应电流I1,
(iv)通过将(ii)中的反应电流I0与(iii)中的反应电流I1进行比较,来评价所述含石墨烯膜的阴离子透过性。
2.权利要求1所述的方法,其中,所述工作电极的形状为膜状。
3.权利要求1或2所述的方法,其中,所述工作电极还具有用于使所述工作电极与所述水溶液不直接接触的保护膜。
4.权利要求1或2所述的方法,其中,所述阴离子为卤离子或氢氧根离子。
5.权利要求1或2所述的方法,其中,所述含有金属银的工作电极为含有金属银薄膜或银纳米线的电极。
6.光电转换元件,其是具备2个电极和设置在其间的光电转换层、且在所述2个电极和所述光电转换层之间的至少一方还具备含石墨烯膜的光电转换元件,其中,
所述含石墨烯膜具有如下特性:
(i)准备具备含有阴离子的水溶液、含有金属银的工作电极、对电极和参比电极、并且其中所述工作电极、所述对电极和所述参比电极通过外部电路电连接的测量装置,
(ii)使所述工作电极、所述对电极和所述参比电极与所述水溶液接触,一边周期性地改变所述工作电极相对于所述对电极的电极电位一边进行扫描,测量金属银与阴离子的反应电流I0,
(iii)代替所述工作电极,使与所述工作电极电连接的含石墨烯膜与所述水溶液接触,其中所述工作电极与所述水溶液不直接接触,一边周期性地改变所述工作电极相对于所述对电极的电极电位一边进行扫描,测量金属银与阴离子的反应电流I1,此时,
在(iii)中,反应电流I1的曲线在正电位侧具有峰,
(iii)的正电位侧的累积电荷量Q1为(ii)的正侧的累积电荷量Q0的20%以下。
7.权利要求6所述的元件,其中,所述含石墨烯膜中含有的石墨烯骨架的碳原子的一部分被氮原子置换。
8.权利要求6或7所述的元件,其中,在所述含石墨烯膜中含有的石墨烯骨架上键合有含有烷基链的取代基。
9.权利要求6或7所述的元件,其中,在所述含石墨烯膜上还具备与所述含石墨烯膜邻接的金属氧化物层。
10.权利要求6或7所述的元件,其中,所述元件具备的电极含有金属银。
11.权利要求6或7所述的元件,其中,所述元件具备的电极是含有金属银薄膜或银纳米线的电极。
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