[发明专利]显示装置及电子设备有效
申请号: | 201880056149.8 | 申请日: | 2018-08-10 |
公开(公告)号: | CN111052215B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 川岛进;楠纮慈;渡边一德;丰高耕平;楠本直人;山崎舜平 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225;G09G3/20;H01L27/32;H01L51/50;H05B33/06;H05B33/12 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 电子设备 | ||
提供一种能够进行图像处理的显示装置。各像素中设置有存储电路,该存储电路保持所希望的校正数据。该校正数据利用外部设备算出并被写入各像素。该校正数据通过电容耦合被附加至图像数据并被供应给显示元件。因此,显示元件可以显示经过校正的图像。通过该校正,可以进行图像的上转换或对因像素中的晶体管的特性偏差而下降的图像质量进行校正。
技术领域
本发明的一个实施方式涉及一种显示装置。
注意,本发明的一个实施方式不局限于上述技术领域。本说明书等所公开的发明的一个实施方式的技术领域涉及一种物体、方法或制造方法。另外,本发明的一个实施方式涉及一种工序(process)、机器(machine)、产品(manufacture)或者组合物(compositionof matter)。由此,更具体而言,作为本说明书所公开的本发明的一个实施方式的技术领域的一个例子可以举出半导体装置、显示装置、液晶显示装置、发光装置、照明装置、蓄电装置、存储装置、摄像装置、这些装置的驱动方法或者这些装置的制造方法。
在本说明书等中,半导体装置是指能够通过利用半导体特性而工作的所有装置。晶体管和半导体电路为半导体装置的一个实施方式。另外,存储装置、显示装置、摄像装置、电子设备有时包括半导体装置。
背景技术
利用形成在衬底上的金属氧化物构成晶体管的技术受到关注。例如,专利文献1及专利文献2公开了一种将使用氧化锌、In-Ga-Zn类氧化物的晶体管用于显示装置的像素的开关元件等的技术。
专利文献3公开了一种具有将关态电流(off-state current)极低的晶体管用于存储单元的结构的存储装置。
[参考文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利申请公开第2007-123861号公报
[专利文献2]日本专利申请公开第2007-96055号公报
[专利文献3]日本专利申请公开第2011-119674号公报
发明内容
显示装置的分辨率不断提高,已经开发出能够显示8K4K(像素数:7680×4320)或更高分辨率的图像的硬件。但是,由于高分辨率的图像数据数量巨大,为了使高分辨率的显示装置得到普及,需要调整摄像装置、存储装置、通信装置等外围技术。
作为生成高分辨率的图像数据的技术之一,有上转换(upconversion)。通过进行上转换,可以将低分辨率的图像转换为伪高分辨率的图像。由于上转换利用显示装置的外围设备进行,所以处理上转换前的图像数据的设备可以采用现有技术。
但是,由于进行上转换的设备需要分析大量图像数据来生成新的图像数据,所以存在电路规模及功耗变大的问题。另外,在某些情况下,处理量太大而无法实时处理,从而导致显示延迟。
虽然上转换有上述问题,但是,例如通过将与上转换有关的功能分散到多个设备,有可能缓和功耗及延迟等问题。
另外,在具有EL(ElectroLuminescence:电致发光)元件等的显示装置中,像素中包括的晶体管的特性偏差是导致显示质量下降的原因之一。作为校正晶体管特性偏差的方法有在像素中的电路对图像数据进行校正的内部校正以及取得各像素的校正值而将校正后的图像数据提供给像素的外部校正。
在内部校正中,可以对每个帧进行校正,但是高分辨率显示装置的水平选择期间较短,因此难以确保校正期间。外部校正对高分辨率显示装置有效,但是需要对所有图像数据进行校正,因此对外部设备的负担较大。理想的是在没有校正的情况下使高分辨率显示装置进行工作,但是,由于降低晶体管特性偏差极为困难,因此需要一种新的校正方法。
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