[发明专利]多光轴光电传感器有效
申请号: | 201880056314.X | 申请日: | 2018-10-30 |
公开(公告)号: | CN111095465B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 小西康允;菊池启作;山田裕也;西内智 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | H01H35/00 | 分类号: | H01H35/00;H03K17/78 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张劲松 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光轴 光电 传感器 | ||
能够使用户容易地掌握哪个受光部处于怎样的受光状态。多光轴光电传感器(10)具备多个受光部(110)、配置于所述多个受光部(110)中对应的受光部的附近且显示该受光部的受光状态的显示部(120)、使显示部(220)在与显示部(120)中的显示相同的时刻显示所述受光状态的显示控制部(103)。
技术领域
本发明涉及具备显示部的多光轴光电传感器。
背景技术
目前,已知有检测物体侵入到检测区域的多光轴光电传感器。多光轴光电传感器具备具有多个投光元件的投光器和具有多个受光元件的受光器,通过将多个投光元件和多个受光元件分别相对配置而构成光轴。多光轴光电传感器重复进行各投光元件相对于相对的受光元件以规定的投光周期依次发光,而受光元件受光的投受光动作,并且,基于受光元件的受光信号检测各光轴的遮光,检测物体向检测区域内的侵入。
另外,显示向受光器的入光状态的多光轴光电传感器也是众所周知的。例如,在专利文献1中记载了在受光器中具备显示部,判定向受光器的入光状态,并在显示部显示该结果的结构。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本国公开专利公报“特开2003-298105号公报(2003年10月17日公开)”
发明所要解决的问题
然而,上述的现有技术存在这样的问题,即:由于显示部偏向受光面的端部而配置,因此,用户无法容易地掌握哪个受光元件的受光状态是良好还是不良的情况。
发明内容
本发明的一方面是鉴于上述问题而创建的,其目的在于,实现能够使用户容易地掌握哪个受光元件(受光部)处于怎样的受光状态的多光轴光电传感器。
用于解决问题的技术方案
为了解决上述问题,本发明的一方面提供一种多光轴光电传感器,其具备投光器及受光器,其特征在于,具备:多个受光部;受光器显示部,其配置于所述多个受光部中、对应的受光部的附近,显示该受光部的受光状态;投光器显示部,其显示所述受光状态;显示同步部,其使所述投光器显示部和所述受光器显示部在相同的时刻显示所述受光状态。
发明效果
根据本发明的一方面,实现能够使用户容易地识别哪个受光部的受光状态是怎样的状态的效果。换言之,实现如下效果:用户通过确认显示部,能够容易地识别哪个受光部的受光状态是良好还是不良的情况。另外,即使在投光器显示部中,也在与受光器显示部相同的时刻显示受光部的受光状态,因此,实现用户通过确认投光器及受光器的任一个而能够识别受光部的受光状态的效果。
附图说明
图1是表示本实施方式的多光轴光电传感器的主要部分结构例的框图。
图2是表示多光轴光电传感器的外观例的图。
图3是用于说明上述多光轴光电传感器中的1周期的处理内容的图,(a)是表示现有技术中的1周期的光处理内容的图,(b)是用于说明现有技术中包含本实施方式的ABI信息的生成、发送处理的情况下的问题点的图,(c)是表示本发明的1周期的处理内容的图。
图4是表示上述多光轴光电传感器的处理流程的序列图。
图5是表示包含于上述多光轴光电传感器的投光器及受光器的显示部的显示例的图。
图6是表示本实施方式的变形例的图。
具体实施方式
[实施方式1]
§1应用例
[多光轴光电传感器的外观结构]
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