[发明专利]用于分析抗冲击性和抗穿刺性的系统

权利要求书

1.一种用于分析膜样品的物理特性的系统，所述系统包含：

材料固持器系统，所述材料固持器系统被配置为固持所述膜样品；

落镖测试系统，所述落镖测试系统被配置为测试所述膜样品的物理特性；和

移动系统，所述移动系统被配置为在站台之间移动所述固持的待分析或待测试的膜样品，

其中所述移动系统被配置为将所述材料固持器系统中的所述固持的膜样品移动到所述落镖测试系统。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述移动系统包含铰接臂机器人系统。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的系统，其中所述材料固持器系统包括被配置为通过真空抽吸来固持所述膜的真空抽吸系统，其中所述膜样品具有带四个拐角的四边形形状，并且所述真空抽吸系统包含被配置为在所述膜样品的每个拐角上基本上固持所述膜样品的第一对吸盘和第二对吸盘。

4.根据权利要求3所述的系统，其中所述真空抽吸系统包含被配置为固持和放置待测试的所述膜样品的第一对吸盘和第二对吸盘，以及被配置为拾取先前测试过的膜样品的第三对吸盘。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统，所述系统进一步包含被配置为测量所述膜样品的厚度的材料厚度测量系统。

6.根据权利要求5中任一项所述的系统，其中所述材料厚度测量系统包含探针，所述探针被配置为在扩展区域上测量所述膜样品的厚度，以避免在所述测量期间穿刺所述膜样品。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统，其中所述落镖测试系统包含具有上钳口和下钳口的夹持系统，其中所述上钳口和所述下钳口各自包含凹槽和脊部，并且所述上钳口和下钳口中的一个中的脊部被配置为装配到所述上钳口和下钳口中的另一个的凹槽中。

8.根据权利要求7所述的系统，其中所述上钳口和所述下钳口中的一个包含固持机构，所述固持机构被配置为在所述夹持系统打开时将所述膜样品固持在适当位置。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，其中所述落镖测试系统包含被配置为测试所述膜样品的物理特性的落镖探针机构。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述落镖探针机构包含落镖探针和被配置为移动所述落镖探针的推进系统。

11.根据权利要求10所述的系统，其中所述推进系统包含线性马达。

12.根据权利要求9至11中任一项所述的系统，其中所述落镖探针机构包含连接到所述落镖探针的压电力传感器，所述压电力传感器被配置为在所述膜样品的落镖测试期间测量力信号。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的系统，所述系统进一步包含与所述落镖测试系统通信的计算机系统，所述计算机系统被配置为采集来自所述落镖测试系统的力数据。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的系统，所述系统进一步包含被配置为检测所述膜样品中的缺陷的材料图像分析器系统。

15.一种用于分析膜样品的物理特性的方法，所述方法包含：

通过连接到移动系统的材料固持器系统来固持所述膜样品；

通过所述移动系统将所述膜样品移动到落镖测试系统；和

使用所述落镖测试系统测试膜材料的物理特性。

16.根据权利要求15所述的方法，其中测试所述膜样品的所述物理特性包含在所述测试期间使用所述落镖测试系统的夹持系统将所述膜样品固持绷紧且无应力。