[发明专利]基于光学参考的吸光度检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201880058226.3 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN111051858A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: L·布伦森;J·C·弗莱塔格;T·汤普森 申请(专利权)人: 锋翔科技公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/03;G01N21/33
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 南毅宁
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 基于 光学 参考 光度 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种系统,包括:

第一光源;

信号检测器;

位于所述第一光源和所述信号检测器之间的流动路径,其中,所述第一光源、所述信号检测器和所述流动路径沿第一轴对齐;

第二光源;以及

参考检测器,所述第二光源和所述参考检测器沿不同于所述第一轴的第二轴对齐。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一光源和所述第二光源安装在公共基板上。

3.根据权利要求2所述的系统,其中,所述公共基板耦合到热控制装置。

4.根据权利要求2所述的系统,其中,所述公共基板、所述第一光源和所述第二光源被容纳在可移动模块上,所述可移动模块被配置为从壳体插入和移除,所述壳体容纳有所述信号检测器、所述流动路径、所述参考检测器,且所述信号检测器、所述流动路径和所述参考检测器固定地耦合到所述壳体。

5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一光源安装在第一基板上,且所述第二光源安装在第二基板上。

6.根据权利要求5所述的系统,其中,所述第一基板和所述第二基板分别耦合到公共热控制装置。

7.根据权利要求5所述的系统,其中,所述第一基板耦合到第一热控制装置,且所述第二基板耦合到第二热控制装置。

8.根据权利要求7所述的系统,其中,所述第一热控制装置与所述第二热控制装置在尺寸、热容量、热导率、热扩散率和热质量中的至少一个方面不同。

9.根据权利要求5所述的系统,所述系统还包括控制器,所述控制器被配置为使所述第一光源的光强度与所述第二光源的光强度相关。

10.根据权利要求9所述的系统,其中,所述控制器还被配置为:

基于所述信号检测器的输出确定样品透射率信号;

基于所述参考检测器的输出确定参考信号;

基于所述参考信号和相关因子,计算参考校正值,所述相关因子是使所述第一光源的光强度与所述第二光源的光强度相关的因子;以及

基于所述样品透射率信号和所述参考校正值计算样品的吸光度。

11.根据权利要求1所述的系统,所述系统还包括温度传感器,所述温度传感器被配置为测量所述第一光源的温度和/或所述第二光源的温度。

12.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一光源包括一个以上的光发射器,和/或所述第二光源包括一个以上的光发射器。

13.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一光源和所述第二光源串联电耦合。

14.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一光源被配置为输出具有给定波长范围的光,且所述第二光源被配置为输出具有相同给定波长范围的光。

15.一种系统,包括

分别安装在公共基板上的第一光源和第二光源;

信号检测器;

位于所述第一光源和所述信号检测器之间的流动路径,其中所述第一光源、所述信号检测器和所述流动路径沿第一轴对齐;

参考检测器,所述第二光源和所述参考检测器沿不同于所述第一轴的第二轴对齐;

耦合到所述公共基板的热控制装置;

耦合到所述公共基板的温度传感器;以及

控制器,被配置为基于所述温度传感器的输出调节所述热控制装置。

16.根据权利要求15所述的系统,其中,所述控制器被配置为调节所述热控制装置以将所述公共基板的温度维持在预定温度范围内。

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