[发明专利]用于传感器数据集中的偏差检测的方法和系统在审
申请号: | 201880059207.2 | 申请日: | 2018-07-12 |
公开(公告)号: | CN111095147A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | V.拉马纳思;A.里兹维卡莱利;G.赫格德 | 申请(专利权)人: | 西门子股份公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;陈岚 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 传感器 数据 集中 偏差 检测 方法 系统 | ||
1.一种在与技术系统中的一个或多个传感器相关联的至少一个传感器数据集中的偏差检测的方法,其中,一个或多个传感器包括目标传感器和非目标传感器,所述方法包括:
按时间系列接收与目标传感器相关联的目标传感器数据集;
基于目标传感器数据集来生成技术系统的最佳拟合模型;
使用最佳拟合模型和非目标传感器的非目标传感器数据集来预测目标传感器的传感器数据集;
通过确定预测传感器数据集和目标传感器数据集之间的差异来确定偏差容限;
当实际传感器数据集中的数据点超过偏差容限时检测目标传感器的实际传感器数据集中的偏差;以及
通过检测非目标传感器数据集中的每个中的偏差来检测一个或多个传感器的至少一个传感器数据集中的偏差。
2.如权利要求1中所述的方法,其中,基于目标传感器数据集来生成技术系统的最佳拟合模型包括:
使用神经网络模型从目标传感器数据集生成系统模型;以及
使用投影追踪回归从系统模型生成最佳拟合模型。
3.如权利要求1中所述的方法,使用最佳拟合模型和非目标传感器的非目标传感器数据集来预测目标传感器的传感器数据集包括:
确定非目标传感器数据集中的非目标数据点与最佳拟合模型的权重的点积。
4.如权利要求1中所述的方法,其中,通过确定预测传感器数据集和目标传感器数据集之间的差异来确定偏差容限包括:
针对每个时刻确定预测传感器数据集中的预测数据点与目标传感器数据集中的目标数据点之间的差异;以及
基于预测数据点和目标数据点之间的差异针对每个时刻来确定偏差容限。
5.如权利要求1中所述的方法,其中,当实际传感器数据集中的数据点超过偏差容限时检测目标传感器的实际传感器数据集中的偏差包括:
确定实际传感器数据集中的数据点是否超过针对每个时刻的偏差容限;以及
当数据点超过偏差容限时,检测实际传感器数据集中的偏差。
6.如权利要求1中所述的方法,其中,通过检测非目标传感器数据集中的每个中的偏差来检测一个或多个传感器的至少一个传感器数据集中的偏差包括:
通过将非目标传感器视为目标传感器,迭代地检测非目标传感器数据集中的每个中的偏差;以及
通过组合与一个或多个传感器中的每个相关联的偏差来检测至少一个传感器数据集中的偏差。
7.如权利要求1中所述的方法,其中,在目标传感器数据集中检测到的偏差是目标传感器数据集中的传感器偏差或目标传感器的预测传感器数据集中的预测偏差。
8.如权利要求7中所述的方法,包括:
当确定预测偏差时,确定非目标传感器数据集中的偏差,其中,非目标传感器数据集和目标传感器数据集能够收敛到确定性函数。
9.如权利要求1中所述的方法,包括:
确定一个或多个传感器的至少一个传感器数据集中的偏差周期;
针对一个或多个传感器中的每个确定采样周期;以及
基于偏差周期和采样周期来预测至少一个传感器数据集中的后续偏差。
10.如权利要求9中所述的方法,其中,确定一个或多个传感器的至少一个传感器数据集中的偏差周期包括:
针对一个或多个传感器中的每个确定传感器阈值;以及
当每个时刻的偏差容限超过传感器阈值时,确定至少一个传感器数据集中的偏差周期。
11.如权利要求9中所述的方法,进一步包括:
针对至少一个传感器数据集确定圆形相关图;
确定偏差周期落在圆形相关图的山丘上还是山谷上;以及
当偏差周期落在山丘上时确定偏差周期为真,并且当偏差周期落在山谷上时确定偏差周期为假。
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