[发明专利]天线孔径中的DC偏移校正

权利要求书

1.一种天线，包括：

天线元件阵列，具有液晶(LC)；

驱动电路，联接到所述阵列并具有多个驱动器，所述多个驱动器中的每个驱动器联接到所述阵列的天线元件，并且可操作以将驱动电压施加到所述天线元件；以及

电压校正逻辑，联接到所述驱动电路以调整驱动电压，以补偿在驱动极性的第一间隔期间施加到每个天线元件的所述液晶LC的第一电压的第一幅值和在与所述第一间隔的驱动极性相反的驱动极性的第二间隔期间施加到所述每个天线元件的所述液晶LC的第二电压的第二幅值之间的偏移。

2.根据权利要求1所述的天线，其中所述电压校正逻辑可操作以调整所述电压，以使所述第一幅值和所述第二幅值之间的所述偏移基本上接近于零。

3.根据权利要求1所述的天线，其中公共电压被施加到所述阵列中的天线元件，并且进一步地，其中所述电压校正逻辑可操作以调整所述公共电压以补偿所述偏移。

4.根据权利要求1所述的天线，其中所述第一间隔和所述第二间隔是正帧和负帧。

5.根据权利要求4所述的天线，其中所述电压校正逻辑可操作以基于正帧和负帧之间的光传输差异来确定校正电压。

6.根据权利要求5所述的天线，进一步包括一个或多个光学透明结构，所述光学透明结构包括测试结构和观察窗口，所述测试结构具有与所述阵列中的天线元件基本相当的光学特性，所述观察窗口用以获得所述测试结构中的所述液晶LC的光学响应，以用于确定校正值。

7.根据权利要求6所述的天线，其中公共电压被施加到所述阵列中的天线元件，并且进一步地，其中所述电压校正电路可操作以基于消除值来调整针对至少一个天线元件的所述公共电压，所述消除值产生以光学消除所述一个或多个光学透明结构中的RF元件波形。

8.根据权利要求6所述的天线，其中所述测试结构位于与波导相关联的波导区域的外部，所述波导将RF能量传送到所述阵列中的所述天线元件。

9.根据权利要求6所述的天线，其中所述测试结构位于所述阵列内。

10.根据权利要求1所述的天线，其进一步包括控制器，所述控制器联接到所述驱动电路，以周期性地使施加在所述天线元件的所述液晶LC上的差分电压的极性反转。

11.一种用于DC偏移校正的方法，包括：

(a)驱动天线中的元件；

(b)观察正帧和负帧之间的光传输差异；

(c)调整所述元件上的公共电压以消除闪烁；

(d)通过使用经调整的公共电压来调整旧的正帧电压和负帧电压来建立新的正帧电压和负帧电压；

(e)将所述新的正帧电压和负帧电压施加到所述元件；

(f)检查所述元件被所述新的正帧电压和负帧电压驱动的闪烁；以及

(g)如果闪烁量低于阈值，则使用所述新的正帧电压和负帧电压。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述元件包括第一测试元件并且以第一灰阶驱动。

13.根据权利要求12所述的方法，进一步包括针对第二灰阶重复操作(a)至(g)，所述第二灰阶不同于所述第一灰阶。

14.根据权利要求13所述的方法，进一步包括对除所述第一灰阶之外的多个灰阶重复操作(a)至(g)。

15.根据权利要求12所述的方法，进一步包括内插从所述第一测试元件和第二测试元件获得的校正值，以获得校正值以与位于所述第一测试元件和所述第二测试元件之间的天线元件一起使用。

16.根据权利要求11所述的方法，其中所述阈值是所述元件不存在闪烁的状态。