[发明专利]光抑制光子结构

权利要求书

1.一种集成装置，其包括：

多个样品孔，其配置于该集成装置的第一层上，其中该多个样品孔的个别样品孔经配置以接收经至少一种荧光标记物标记的样品，该至少一种荧光标记物经配置以响应于激发光发射发射光；

多个光检测器，其配置于该集成装置的第二层上且经定位以接收自该多个样品孔发射的发射光的光子，其中该多个样品孔的个别样品孔与该多个光检测器的至少一个光检测器对准；及

至少一个光子结构，其定位于个别样品孔与其各自至少一个光检测器之间，该至少一个光子结构经配置以相对于该发射光衰减该激发光，其中由该至少一个光检测器生成的信号指示检测到发射光的光子。

2.如权利要求1所述的集成装置，其中该至少一个光子结构经定位以在共轴上与个别样品孔及其各自至少一个光检测器对准。

3.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该多个样品孔的样品孔经定位以与其各自至少一个光检测器重叠。

4.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该多个样品孔的个别样品孔与该多个光检测器的个别光检测器对准。

5.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个光子结构具有至少一个在共轴上与个别样品孔及其各自至少一个光检测器对准的开口。

6.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其进一步包括至少一个经配置以使激发光耦合至该多个样品孔的一部分的波导。

7.如权利要求6或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个波导的第一波导经定位以与该部分样品孔的第一样品孔及该多个光检测器的第一光检测器沿共轴重叠。

8.如权利要求7或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个光子结构沿该共轴定位于该第一波导与该第一光检测器之间。

9.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个光子结构包含至少一个具有至少一个开口的空间滤波器，该开口与该多个样品孔的至少一部分重叠且经配置以阻断该激发光的至少一部分的传递。

10.如权利要求9或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个空间滤波器包含至少一个经配置以阻断该激发光的至少一部分的传递的金属层。

11.如权利要求10或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该集成装置进一步包括含有该至少一个金属层的电路，其中该电路电耦合至该多个光检测器的至少一个光检测器。

12.如权利要求9或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个空间滤波器包含经定位邻近该多个样品孔的第一空间滤波器及经定位邻近该多个光检测器的第二空间滤波器。

13.如权利要求12或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该第一空间滤波器含有具有第一尺寸的开口且该第二空间滤波器含有具有第二尺寸的开口，该第一尺寸大于该第二尺寸。

14.如权利要求1或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个光子结构包含至少一个经配置以高于第二范围波长的水平传递第一范围波长的滤光器，其中该第一波长范围包含该发射光的至少一个特征波长且该第二波长范围包含该激发光的至少一个特征波长。

15.如权利要求14或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个滤光器定位于第一空间滤波器与第二空间滤波器之间。

16.如权利要求14或任一其他前述权利要求所述的集成装置，其中该至少一个滤光器包含多个具有低折射率材料的低折射率层及多个具有高折射率材料的高折射率层。