[发明专利]路径解析的光学采样架构

权利要求书

1.一种系统，包括：

至少一个光发射器，所述至少一个光发射器发射光；

系统接口，所述系统接口包括：

发射区域，由所述至少一个光发射器发射的所述光能够从所述发射区域离开所述系统，其中所述发射区域包括第一维度和第二维度，所述发射区域的所述第二维度相对于所述发射区域的所述第一维度伸长，其中所述发射区域被配置为从由所述至少一个光发射器发射的所述光形成具有第二维度的第一光束，当所述第一光束离开所述系统时，所述第二维度相对于所述第一光束的第一维度伸长，和

检测区域，所述光能够穿过所述检测区域进入所述系统，其中所述检测区域包括第一维度和第二维度，所述检测区域的所述第二维度相对于所述检测区域的所述第一维度伸长，其中所述发射区域的所述第二维度沿所述检测区域的所述第二维度伸长的相同方向伸长，并且其中所述检测区域被配置为从进入所述系统的所述光在所述系统内形成第二光束，所述第二光束具有相对于所述第二光束的第一维度伸长的第二维度；

检测器，所述检测器检测所述第二光束中的至少一部分并生成指示所述第二光束中的所述部分的一个或多个信号；和

逻辑部件，所述逻辑部件从所述一个或多个信号确定一个或多个样本特性。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述发射区域的尺寸和形状与所述检测区域的尺寸和形状相同。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述检测区域的所述第二维度比所述发射区域的所述第二维度长。

4.根据权利要求1所述的系统，还包括：

光学器件选择性地允许所述第二光束中的所述部分穿过所述检测器，其中所述第二光束中的所述部分满足角度变化标准。

5.根据权利要求4所述的系统，其中所述角度变化标准包括基于目标光学路径长度的角度阈值范围。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述检测区域通过选择性地允许来自进入所述系统的所述光的满足角度变化标准的光来形成所述第二光束。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述至少一个光发射器包括一个或多个输出耦合器和反射器，所述一个或多个输出耦合器定位成与所述反射器相距第一间隔距离，

其中所述一个或多个输出耦合器定位成与所述发射区域相距第二间隔距离，

其中所述检测器定位成与所述检测区域相距第三间隔距离，并且

其中目标光学路径长度、所述第一间隔距离、所述第二间隔距离和所述第三间隔距离的总和等于所述反射器的焦距。

8.根据权利要求1所述的系统，还包括：

复用器，所述复用器：

接收由所述至少一个光发射器发射的所述光，

从由所述至少一个光发射器发射的所述光形成第三光束，并且

输出所述第三光束；

相位控制网络，所述相位控制网络：

接收所述第三光束，并且

控制所述第三光束的至少一部分的相位；和

输出耦合器阵列，所述输出耦合器阵列包括多个输出耦合器，所述输出耦合器阵列将所述第三光束重新引导到所述发射区域。

9.根据权利要求8所述的系统，其中所述第三光束具有以下中的一者或多者：

不同的平面内发射角度和平面内发射位置。

10.一种光发射器，包括：

一个或多个光源，所述一个或多个光源沿第一平面发射光；

一个或多个波导，所述一个或多个波导输出由所述一个或多个光源发射的所述光；和

一个或多个输出耦合器，所述一个或多个输出耦合器将由所述一个或多个波导输出的所述光引导到第二平面，

其中由所述一个或多个输出耦合器引导的所述光是相对于由所述一个或多个波导输出的所述光具有不同特性的第一光束，所述特性包括平面内发射角度、平面内发射位置或两者；

其中所述第一光束具有相对于所述第一光束的第一维度伸长的第二维度。