[发明专利]减少干扰的测定在审

专利信息
申请号: 201880063697.3 申请日: 2018-07-31
公开(公告)号: CN112204381A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 斯蒂芬·Y·周;丁惟 申请(专利权)人: ESSENLIX公司
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N33/49;B01L3/00
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 吴泳历
地址: 美国新泽西州*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 减少 干扰 测定
【权利要求书】:

1.一种用于测定含有分析物和干扰元素的样品的设备,包含:

样品保持器,其被配置为保持含有分析物和一个或多个干扰元素的样品;

成像器和软件,其被配置为识别(a)样品中具有干扰元素浓度小于样品中另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”),和/或(b)干扰元素富集区;以及

检测器,其被配置为检测与干扰元素匮乏区和/或干扰元素富集区中的分析物相关的信号。

2.一种用于测定含有分析物和干扰元素的样品的设备,包含:

样品保持器,其被配置为保持含有分析物和一个或多个干扰元素的样品;以及

成像器和软件,其被配置为识别样品中具有干扰元素浓度小于样品中另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”);以及

检测器,其被配置为检测与干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

3.一种用于测定含有分析物和干扰元素的液体样品的设备,包含:

样品保持器,其包含第一板和第二板并且被配置为保持含有分析物和一个或多个干扰元素的样品,其中:

i.样品的至少一部分位于第一板和第二板之间;以及

ii.所述板中的一个或两个被配置为允许所述样品的至少一部分通过所述板中的一个或两个可见;

成像器和软件,其被配置为在所述样品的至少一部分中识别所述样品层中具有干扰元素浓度小于另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”);以及

检测器,其被配置为检测与干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

4.一种用于测定含有分析物和干扰元素的液体样品的设备,包含:

样品保持器,其包含第一板、第二板和间隔件并且被配置为保持含有分析物和一个或多个干扰元素的样品,其中:

i.所述第一板和所述第二板可相对于彼此移动;

ii.所述间隔件固定在所述板中的一个或两个上并且具有均匀高度;

ii.第一板和第二板被配置为将样品压缩成均匀厚度层,其基本上等于间隔件的高度;

成像器和软件,其被配置为识别样品层中具有干扰元素浓度小于样品层中另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”);以及

检测器,其被配置为检测与干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

5.一种用于测定含有分析物和干扰元素的样品的试剂盒,包含:

如任一前述权利要求所述的设备;以及

聚集试剂,其引起或帮助样品具有干扰元素浓度小于样品中的另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”)。

6.一种用于测定含有分析物和干扰元素的样品的方法,包含:

i.获取样品保持器;

ii.在样品保持器中沉积含有分析物和一个或多个干扰元素的样品;

iii.用成像器和软件成像和识别(a)样品中具有干扰元素浓度显著小于其它区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”),和/或(b)干扰元素富集区;以及

iv.测量与干扰元素富集区和/或干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

7.一种用于测定含有分析物和干扰元素的样品的方法,包含:

i.获取样品保持器;

ii.在样品保持器中沉积含有分析物和一个或多个干扰元素的样品;

iii.用成像器和软件成像和识别(a)样品中具有干扰元素浓度小于另一区域(“干扰元素匮乏区”)的区域(“干扰元素富集区”);以及

iv.测量与干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

8.如任一前述权利要求所述的方法,其中所述方法还包含添加聚集试剂,其引起或帮助样品具有干扰元素浓度小于样品中的另一区域(“干扰元素富集区”)的区域(“干扰元素匮乏区”)。

9.如任一前述权利要求所述的方法,其中测量与所述干扰元素匮乏区中的分析物相关的信号。

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