[发明专利]探测器有效
申请号: | 201880064857.6 | 申请日: | 2018-08-22 |
公开(公告)号: | CN111194410B | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 剑崎真一;北市幸裕;末政肇;阿部学 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/073 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王玮;张丰桥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测器 | ||
本发明提供能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查的探测器。用于进行连接器的特性检查的探测器具备凸缘、壳体、固定柱塞、第1弹性体、可动柱塞以及第2弹性体,在可动柱塞的前端部形成有凹部,在凹部形成有供与同轴电缆电连接的探针通过的开口部,可动柱塞能在使探针的前端从开口部突出的第1位置、以及将探针的前端配置于比开口部更靠基端部侧的第2位置之间移动,第2弹性体的弹力设定得大于第1弹性体的弹力。
技术领域
本发明涉及用于进行连接器的特性检查的探测器。
背景技术
以往公开有进行作为被检查体的连接器的特性检查的探测器(例如参照专利文献1)。
专利文献1的探测器是用于进行同轴连接器的特性检查的探测器,特别是进行设置有多个端子以便流通多个信号的多极连接器的特性检查。专利文献1的探测器具备能够对多极连接器的多个端子同时接触的多个中心导体。
专利文献1:国际公开第2016/072193号公报
在连接器的探测器中,寻求使端子的特性检查的精度提高。在如专利文献1的探测器那样,对多个端子使多个中心导体同时接触的情况下,容易产生端子与中心导体的位置偏移,而特性检查的精度降低。包含专利文献1中公开的那样的探测器在内,寻求能够精度更好地进行端子的特性检查的技术的开发。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查的探测器。
为了实现上述目的,本发明的探测器是用于进行连接器的特性检查的探测器,具备:凸缘,用于将所述探测器安装于设备;壳体,具有一方侧的端部亦即基端部与另一方侧的端部亦即前端部,将同轴电缆内包且沿轴向延伸;固定柱塞,固定于所述壳体的比所述基端部更靠所述前端部侧;第1弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述固定柱塞以及所述凸缘向相互远离的方向施力,可动柱塞,在比所述固定柱塞更靠所述前端部侧,在能相对于所述固定柱塞相对移动的状态下被保持;以及第2弹性体,设置于所述固定柱塞,能将所述可动柱塞向远离所述固定柱塞的方向施力,在所述可动柱塞的前端部形成有凹部,在所述凹部形成有供与所述同轴电缆电连接的探针通过的开口部,所述可动柱塞能在第1位置和第2位置之间移动,在所述第1位置使所述探针的前端从所述开口部突出,在所述第2位置将所述探针的前端配置于比所述开口部更靠所述基端部侧,所述第2弹性体的弹力被设定得大于所述第1弹性体的弹力。
根据本发明的探测器,能够精度更好地进行连接器的端子的特性检查。
附图说明
本发明的这些形式与特征通过与附加的附图有关的优选实施方式相关的接下来的记述而变得清楚。
图1是实施方式1中的探测器的概略立体图。
图2是示出探测器的一部分的概略立体图。
图3是探测器的概略剖视图。
图4是探针的前端部周边的概略纵剖视图。
图5是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图6A是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图6B是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图7A是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图7B是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图8是示出将连接器配置于凹部的动作的概略纵剖视图。
图9是示出实施方式2的探测器中的固定柱塞与可动柱塞的周边结构的概略纵剖视图。
图10是示出实施方式3的探测器的概略纵剖视图。
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