[发明专利]具有遮盖的键合框的微机械设备在审

专利信息
申请号: 201880066312.9 申请日: 2018-10-04
公开(公告)号: CN111315681A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: J·赖因穆特;M·兰巴赫 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 侯鸣慧
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 遮盖 键合框 微机 设备
【权利要求书】:

1.微机械设备,该微机械设备具有平行于主延伸平面(40)彼此相叠地布置的衬底(10)、功能层(20)和罩(30),

-其中,在所述功能层(20)中构造有腔(50),该腔由键合框(60)围绕,该键合框平行于所述主延伸平面(40)地走向,

-其中,所述罩(30)与所述键合框(60)连接,其特征在于,所述腔(50)在垂直于所述主延伸平面(40)的方向(45)上部分地布置在键合框(60)和衬底(10)之间。

2.根据权利要求1所述的微机械设备,其特征在于,在所述功能层中构造有微机械结构(25),该微机械结构布置在所述腔中,并且所述微机械结构(25)在垂直于所述主延伸平面(40)的所述方向(45)上部分地布置在键合框(60)和衬底(10)之间。

3.根据权利要求1或2所述的微机械设备,其特征在于,在所述功能层(20)上方、在所述键合框(60)下方布置有中间层(80)、尤其是多晶硅层。

4.用于制造微机械设备的方法,具有以下步骤:

(A)提供衬底;

(B)在所述衬底上制造功能层;

(C)将氧化物层沉积在所述功能层上;

(D)将中间层沉积在所述氧化物层上;

(E)移除所述中间层的一些部分,其中,所述中间层至少在键合框的区域中保留;

(F)移除所述氧化物层,其中,产生腔,该腔部分地在所述键合框的区域中的中间层和所述功能层之间延伸;

(G)将罩键合到所述键合框上。

5.根据权利要求4所述的用于制造微机械设备的方法,其特征在于,沉积多晶硅层作为中间层。

6.根据权利要求4或5所述的用于制造微机械设备的方法,其特征在于,在步骤(B)之后并且在步骤(C)之前在所述功能层中形成微机械结构并且在步骤(C)中通过氧化物遮盖该微机械结构。

7.根据权利要求6所述的用于制造微机械设备的方法,其特征在于,在步骤(C)之后并且在步骤(D)之前在所述键合框的区域中将凹部蚀刻到所述氧化物中,该凹部在步骤(D)中通过所述中间层的材料填充,以便在所述键合框下方制造用于所述微机械结构的止挡部。

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