[发明专利]铝粉颜料及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201880066967.6 申请日: 2018-09-07
公开(公告)号: CN111212696A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 札场哲哉;吉田浩二;黑田胜宏;玉浦裕贵 申请(专利权)人: 东洋铝株式会社
主分类号: B22F1/00 分类号: B22F1/00;C09C1/64
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴克鹏
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 颜料 及其 制造 方法
【说明书】:

本发明的铝粉颜料是含有铝薄片的铝粉颜料,所述铝薄片中含有粒子大小为1μm以下的小直径铝薄片,在使用扫描型电子显微镜观察所述铝薄片时的显微镜成像中,所述小直径铝薄片,其数量的比率相对于所述铝薄片的总体为35%以下。

技术领域

本发明涉及铝粉颜料及其制造方法。

背景技术

铝粉颜料,作为涂料组成物、墨组成物和树脂组成物等中所包含的金属颜料,在广泛的领域被使用。一般来说,涂膜的金属感会通过亮度、明度、闪烁感等的组合而在视觉上被认知,但历来的倾向是希望有亮度高的涂膜。

例如日本特开平11-152423号公报(专利文献1),以得到高亮度的铝粉颜料为目的,提出使铝薄片的粒径一致。具体来说,通过得到均匀度指数n≥2.4的铝薄片,可达成高亮度的铝粉颜料。该均匀度指数n是根据罗辛-罗姆勒线图得到的数值,该值越大,意味着粒度分布越狭窄。因此认为均匀度指数n能够作为用于评价粒子的粒径是否一致的指标。

关于铝薄片的上述均匀度指数n的计算方法,例如如下。即,对于铝薄片使用激光衍射式粒度分布测量装置而求得体积基准的粒度分布,将基于该粒度分布的每个粒径的累积分布绘制在罗辛-罗姆勒线图中。再通过将绘制的点彼此连接,在罗辛-罗姆勒线图上得到直线。接着,能够通过求得该直线的斜率,将其作为均匀度指数n计算。

先行技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平11-152423号公报

但是,从面向新颖的设计性的愿望出发,对于铝粉颜料来说,要求一种可展现更高级的金属感的金属颜料。因此,盼望开发出超过上述均匀度指数n≥2.4的铝粉颜料的高亮度的新的铝粉颜料。

发明内容

本发明鉴于上述实际情况而形成,其目的在于,提供一种作为展现高级的金属感的金属颜料更高亮度的铝粉颜料及其制造方法。

本发明者们认识到,在粒子大小为1μm以下的小直径铝薄片附着在粒子大小比其大的铝薄片上等的情况下,想要使用激光衍射式粒度分布测量装置求得铝薄片的粒度分布时,是在小直径铝薄片未被检测出的状态下,求得上述粒度分布。这种情况下,由激光衍射式粒度分布测量装置所得到的粒度分布,和基于该粒度分布所得到的均匀度指数n,并不表示真实的数值,作为测量对象的铝薄片,存在其粒径不一致的可能性。

基于这样的认知,本发明者们针对用于铝粉颜料的铝薄片,使用电子显微镜等反复目视观察。由此发现,在显微镜成像中的小直径铝薄片少时,才展示出能够得到粒径真正一致的铝薄片的倾向,因此达成粒径真正一致的铝薄片。含有粒径的真正一致的铝薄片的铝粉颜料,由激光衍射式粒度分布测量装置取得的均匀度指数n,与以往相比即使是表示为同程度,其亮度也为高亮度。即本发明具有以下的构成。

(1)本发明是含有铝薄片的铝粉颜料,上述铝薄片,含有粒子大小为1μm以下的小直径铝薄片,在使用扫描型电子显微镜观察上述铝薄片时的显微镜成像中,上述小直径铝薄片,其数量的比率相对于上述铝薄片的总体为35%以下。

(2)优选在上述显微镜成像中,上述小直径铝薄片,其数量的比率相对于上述铝薄片的总体为25%以下。

(3)优选上述铝薄片,在使用激光衍射式粒度分布测量装置测量其粒度分布时,基于由上述粒度分布得到的罗辛-罗姆勒线图的均匀度指数n为2.5以上。

(4)本发明是上述铝粉颜料的制造方法,其包括:通过雾化法,由纯铝或铝合金得到雾化粒子的工序;对于上述雾化粒子进行分级,从而得到铝粒子的工序;通过粉碎上述铝粒子,由此得到铝薄片的工序。

据上述,能够提供作为展现高级的金属感的金属颜料更高亮度的铝粉颜料及其制造方法。

附图说明

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