[发明专利]微细管内壁缺陷检测修复装置

权利要求书

1.一种微细管内壁缺陷检测修复装置，其特征在于，包括：

检测探头、修复探头和与所述检测探头和修复探头相连的处理装置；其中，所述修复探头包括打磨探头、填充探头、清洗探头和吸尘探头中的至少一个；

所述检测探头，用于将入射相干光照射到所述微细管内壁上，并将反射的相干光传输至所述处理装置；

所述处理装置，用于根据反射的相干光得到所述微细管内壁的散斑图像；当根据所述散斑图像确定所述微细管内壁存在缺陷时，控制所述修复探头对所述微细管内壁的缺陷进行修复，所述处理装置包括：

相干光发射器，用于产生所述入射相干光，并通过光纤将所述入射相干光传输至所述检测探头；

相干光接收器，用于将所述反射的相干光转换为所述微细管内壁的散斑图像，并将所述微细管内壁的散斑图像传输至图像处理器；

所述图像处理器，用于根据所述散斑图像判断所述微细管内壁上是否存在缺陷；当确定所述微细管内壁存在缺陷时，确定所述微细管内壁的缺陷类型，具体用于：将所述微细管内壁的散斑图像输入到缺陷识别模型中进行计算，以得到计算结果，所述缺陷识别模型为神经网络模型或者深度学习模型；根据计算结果与缺陷类型的对应关系表，获取计算结果对应的缺陷类型；

控制器，用于根据所述微细管内壁的缺陷类型，控制所述修复探头中与所述缺陷类型对应的修复探头对所述微细管内壁的缺陷进行修复。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述图像处理器还用于：

当确定所述微细管内壁存在缺陷时，确定所述缺陷对应的散斑图块在所述微细管内壁的散斑图像的坐标（x,y）；

根据所述缺陷对应的散斑图块在所述微细管内壁的散斑图像的坐标（x,y），确定所述缺陷在所述微细管内壁中的位置信息（L,α），且L=βx，α=βy/2πr*360°

其中，所述L为所述缺陷与所述微细管内壁的检测入口处之间的距离，所述α为连接所述缺陷与其所在横截面的中心的直线与水平线之间的夹角，所述r为所述微细管的内半径；所述β为常数。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述检测修复装置还包括与所述修复探头连接的运动机构，所述修复探头包括标记探头，所述标记探头为弯曲状，所述标记探头包括旋转装置；

所述标记探头，用于在所述运动机构的牵引下和旋转装置控制下，运动至所述缺陷在所述微细管内壁中的位置；对所述缺陷进行标记。

4.根据权利要求1或3所述的装置，其特征在于，所述检测修复装置还包括与所述修复探头连接的运动机构，所述缺陷类型为形变，且所述形变导致所述微细管内壁产生凸起面时，所述修复探头包括打磨探头和垃圾回收探头；所述控制器控制所述修复探头对所述微细管内壁的缺陷进行修复，包括：

所述控制器控制所述运动机构牵引所述打磨探头和所述垃圾回收探头运动至所述凸起面所在的位置；

所述打磨探头，用于对所述微细管内壁上的凸起面进行打磨，以消除因形变导致的凸起面；

所述垃圾回收探头，用于回收所述打磨探头对所述微细管内壁上的缺陷进行打磨时产生的废弃物。

5.根据权利要求1或3所述的装置，其特征在于，所述检测修复装置还包括与所述修复探头连接的运动机构，所述缺陷类型为形变，且所述形变导致所述微细管内壁产生凹陷面时，所述修复探头包括填充探头、打磨探头和垃圾回收探头；所述控制器控制所述修复探头对所述微细管内壁的缺陷进行修复，包括：

所述控制器控制所述运动机构牵引所述填充探头、所述打磨探头和所述垃圾回收探头运动至所述凹陷面所在的位置；

所述填充探头，用于使用与所述微细管材质相同的材料对所述凹陷面进行填充，以消除因形变导致的凹陷面；

所述打磨探头，用于对填充后的凹陷面进行打磨；

所述垃圾回收探头，用于回收所述打磨探头对所述填充后的凹陷面进行打磨时产生的废弃物。