[发明专利]用于使用电子测试源模拟闪烁事件的系统和方法

权利要求书

1.一种用于使用电子测试源校准和/或测试液体闪烁计数器的方法，所述方法包括：

(a)从所述电子测试源的脉冲发光二极管LED产生多个模拟放射性事件测试脉冲，其中每个模拟放射性事件测试脉冲属于选自由以下各者组成的群组的种类：

(A)贝塔测试脉冲，其具有模拟由于贝塔发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形；

(B)阿尔法测试脉冲，其具有模拟由于阿尔法发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形；以及

(C)伽玛测试脉冲，其具有模拟由于伽玛发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形，

其中所述多个模拟放射性事件测试脉冲包括至少一个贝塔测试脉冲以及至少一个阿尔法测试脉冲；以及

(b)通过所述液体闪烁计数器的一或多个检测器检测所述多个模拟放射性事件测试脉冲。

2.根据权利要求1所述的方法，其包括基于通过所述液体闪烁计数器对所述至少一个阿尔法测试脉冲以及所述至少一个贝塔测试脉冲的所述检测校准所述液体闪烁计数器的一或多个鉴别器。

3.根据权利要求1所述的方法，其中：

所述多个模拟放射性事件测试脉冲包括至少一个伽玛测试脉冲，以及

所述方法包括基于(i)所述至少一个阿尔法测试脉冲和/或所述至少一个贝塔测试脉冲的检测以及(ii)所述至少一个伽玛测试脉冲的检测校准所述液体闪烁计数器的一或多个鉴别器。

4.一种用于使用电子测试源校准和/或测试液体闪烁计数器的方法，所述方法包括：

(a)从所述电子测试源的脉冲LED产生多个模拟放射性事件测试脉冲，其中每个模拟放射性事件测试脉冲属于选自由以下各者组成的群组的种类：

(A)贝塔测试脉冲，其具有模拟由于贝塔发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形；

(B)阿尔法测试脉冲，其具有模拟由于阿尔法发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形；以及

(C)伽玛测试脉冲，其具有模拟由于伽玛发射器的放射性衰变通过闪烁剂产生的光脉冲波形的光脉冲波形；

(b)如下调节(i)和(ii)中的至少一个：

(i)所述模拟放射性事件测试脉冲中的一或多个的强度；以及

(ii)两个或大于两个模拟放射性事件测试脉冲之间的时间间隔；以及

(c)通过所述液体闪烁计数器的一或多个检测器检测所述多个模拟放射性事件测试脉冲。

5.根据权利要求4所述的方法，其中：

所述多个模拟放射性事件测试脉冲包括贝塔测试脉冲，

步骤(b)包括调节所述贝塔测试脉冲中的一或多个的强度以产生模拟碳14(¹⁴C)频谱的强度的分布，由此产生模拟¹⁴C频谱，

步骤(c)包括检测所述模拟¹⁴C频谱，以及

所述方法包括基于所述检测到的模拟¹⁴C频谱校准和/或测试所述液体闪烁计数器的一或多个高电压设置。

6.根据权利要求4所述的方法，其中：

步骤(b)包括调节所述模拟放射性事件测试脉冲中的一或多个的强度以产生具有不同的强度的多个模拟放射性事件测试脉冲，以及

步骤(c)包括检测具有不同的强度的所述多个模拟放射性事件测试脉冲，以及所述方法包括基于具有不同的强度的所述检测到的模拟放射性事件测试脉冲的所述强度校准和/或测试所述液体闪烁计数器的能量路径动态范围。

7.根据权利要求4所述的方法，其中：

步骤(b)包括调节所述两个或大于两个模拟放射性事件测试脉冲之间的所述时间间隔以产生在固定速率下发射的模拟放射性事件测试脉冲的序列，

步骤(c)包括检测所述模拟放射性事件测试脉冲的序列，以及

所述方法包括基于所述模拟放射性事件测试脉冲的检测到的序列校准和/或测试所述液体闪烁计数器的计数速率线性。