[发明专利]磁共振成像中弛豫时间的定量测量

说明书

本发明提供了磁共振成像系统(100、400)。机器可执行指令(140)使控制磁共振成像系统的处理器(130)利用脉冲序列命令控制(200)磁共振成像系统以采集一系列磁共振数据和噪声磁共振数据。脉冲序列命令被配置用于控制磁共振成像系统以根据用于定量确定弛豫时间的定量磁共振成像协议从对象(118)采集一系列磁共振数据(144)。定量磁共振成像协议被配置用于控制磁共振成像系统以使用多个脉冲序列重复(508)来采集一系列磁共振数据。多个脉冲序列重复中的每个包括磁梯度部分(502)、射频部分(500)和采集部分(504)。定量磁共振成像协议包括多个脉冲序列重复中的至少两个之间的暂停周期(510)，其中，脉冲序列命令被配置用于使用磁梯度部分和采集部分在暂停周期期间采集噪声磁共振数据(146)。射频部分在噪声磁共振数据的采集期间被停用。对机器可执行指令的执行还使处理器使用一系列磁共振数据来重建(202)针对弛豫时间而加权的一系列磁共振图像(148)，并且使用噪声磁共振数据来重建(204)噪声磁共振图像(150)。

技术领域

本发明涉及磁共振成像，尤其涉及弛豫时间的定量测量。

背景技术

大的静态磁场由磁共振成像(MRI)扫描器使用以对准原子的核自旋，作为用于产生患者的身体内的图像的流程的部分。该大的静态磁场被称为B0场或主磁场。对象的各种数量或性质可以使用MRI来空间地测量。例如，可以使用MRI研究对象的各种电性质。被测量的可以定量测量的若干数量是与核磁共振(NMR)信号的衰变有关的弛豫时间。这些弛豫时间在本文中统称为“弛豫时间”。

弛豫时间包括纵向(或自旋-晶格)弛豫时间，其也称为自旋晶格弛豫时间或T1弛豫时间。弛豫时间还包括横向弛豫时间，其也称为自旋-自旋弛豫时间或T2弛豫时间。T2*弛豫时间或T2星弛豫时间在本文中也被认为是弛豫时间，并且归因于由于B0场的不均匀性造成的NMR单个的移相，所述不均匀性是由于被检查的样本中分子的存在造成的。

美国专利申请US 2012/0271147 A1公开了示范性系统、方法以及计算机可访问介质可以被提供用于对至少一个解剖结构进行成像。例如，能够将具有快速自旋回波(FSE)的饱和恢复(SR)脉冲序列引导至(一个或多个)解剖结构或引导到(一个或多个)解剖结构处。可以基于SR脉冲序列来生成至少一个解剖结构的至少一幅T1图像。在一个范例中，(一个或多个)解剖结构可以包括臀部。根据另一个范例，(一幅或多幅)T1图像可以包括在多个旋转径向平面中生成或提供的多幅T1图像。本申请还公开了使用例如没有RF激励的脉冲序列来采集噪声图。

期刊文章O.T.Karlsen、R.Verhagen和W.M.M.J.Bovée(1999)，Parameterestimation from Rician-distributed data sets using a maximum likelihoodestimator:Application to t1 and perfusion measurements(Magn.Reson.Med.，41：614-623，doi：10.1002/(SICI)1522-2594(199903)41：3614：AID-MRM263.0.CO；2-1)公开了使用最大似然估计器对T1弛豫时间的估计。

发明内容

在独立权利要求中，本发明提供了磁共振成像系统、计算机程序产品和方法。

在弛豫时间的测量中，使用多个脉冲序列重复进行多次重复测量。在这些脉冲序列重复中的每个期间，采集磁共振数据。来自脉冲序列重复中的每个的磁共振数据可以被重建为图像。磁共振数据的重复采集导致一系列磁共振数据，该一系列磁共振数据可以被重建为一系列磁共振图像。对一系列磁共振图像的分析允许计算弛豫时间或从弛豫时间导出或与弛豫时间有关的其他数量，例如磁共振成像造影剂的浓度。