[发明专利]测试探针模块与测试插座

说明书

本发明公开一种测试探针模块。所述测试探针模块包括：导电管；探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及绝缘探针支撑部件，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。本发明的测试探针模块在噪声屏蔽效能上得以改良且便于修理探针，乃因探针是通过被非接触式地支撑于金属管中而被安装至探针插座。

技术领域

本发明涉及一种用于对欲测试的射频半导体或高速半导体或者类似物件进行测试的测试探针模块(test probe assembly)与测试插座(test socket)。

背景技术

在用于测试射频半导体或高速半导体的测试插座中，信号探针被非接触式地安装至导电块(conductive block)以屏蔽来自相邻信号探针的噪声。在此种情形中，信号探针所包括的相对的两个端部分在信号探针非接触式地经过导电块之后被支撑于绝缘支撑板上，所述绝缘支撑板安排于导电块的两侧上。然而，对于此种传统的方法而言，当绝缘支撑板的厚度不足以支撑探针时，难以支撑住探针。另一方面，当绝缘支撑板是厚的时，支撑板会造成噪声在各信号探针之间泄漏的问题。

为解决此种问题，韩国专利公开案第10-2010-0105622号的相关技术已公开：在导电测试插座中的探针孔的相对两端处安排环氧树脂绝缘体且以环氧树脂绝缘体来支撑信号探针。大测量试探针被安装至测试插座。此种传统的方法具有如下问题：甚至在安装至测试插座的测试探针中仅有一个测试探针受损坏时，亦必须更换整个测试插座。此外，传统的方法具有如下问题：将环氧树脂绝缘体插入于测试插座的探针孔中是非常不便且困难的。具体而言，传统的方法具有如下问题：插入于测试插座的探针孔中的环氧树脂绝缘体不易被支撑住且因此会伸出。

发明内容

技术问题

本发明的目标被设想成解决传统的问题并提供一种用于测试射频半导体或高速半导体的测试探针模块及一种改良噪声屏蔽且便于修理及维护的测试插座。

本发明的另一目标是提供一种用于测试射频半导体或高速半导体的测试探针模块及一种易于制造且具有优良耐久性的测试插座。

技术解决方案

根据本发明的实施例，提供一种测试探针模块及一种测试插座来解决上述问题。所述测试探针模块包括：导电管；探针，被非接触式地插入于所述管中且可沿长度方向弹性伸缩；以及绝缘探针支撑部件(insulation probe supporting member)，被配置成在所述管的内壁与所述探针的外表面之间支撑所述探针。

所述探针支撑部件可在被插入于所述管中之前预先制造出，且包括突起部容置器(projection accommodator)，所述突起部容置器容置通过向内挤压所述管而形成的突起部。

所述探针支撑部件可通过在所述管中注射液体环氧树脂并使所述液体环氧树脂硬化而形成。

所述管可包括彼此纵向连接的第一管及第二管。

所述探针支撑部件可包括管插入部分(pipe insertion portion)、自所述管插入部分径向延伸的延伸部分(extended portion)、以及形成于所述管插入部分的外表面上的第一螺纹，且所述管可包括与所述第一螺纹对应的第二螺纹。

所述探针可包括筒及柱塞，所述柱塞在自所述筒局部突出的同时被插入于所述筒中，且所述探针支撑部件可包括用以容置所述筒的筒孔及用以容置所述柱塞的柱塞孔。

所述突起部容置器可形成于所述柱塞孔的外圆周表面上。

所述管的两个端部分中的至少一者可包括在直径上缩小的缩拢部分。

一种测试插座包括：上述测试探针模块；以及导电块，被配置成对各所述测试探针模块进行平行支撑，以使得所述探针的两个端部分能够自所述导电块的顶表面及底表面局部突出。