[发明专利]先进的太赫兹系统及方法

权利要求书

1.一种太赫兹数据采集和分析系统，包括：

太赫兹光谱仪，所述太赫兹光谱仪被配置为对样本执行太赫兹光谱测量；

数据采集单元，所述数据采集单元被配置为基于所述太赫兹光谱测量采集样本数据；以及

处理单元，所述处理单元被配置为用于在所述样本数据与参考数据之间进行比较，用于识别所述样本。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述处理单元被配置为用于根据样本识别，使用所述样本数据执行机器学习来丰富所述参考数据。

3.根据权利要求1或2所述的系统，包括用于参考数据的数据库。

4.根据权利要求3所述的系统，其中，所述数据库还包含一列材料的折射率。

5.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述参考数据存储在所述系统外部的共享数据中心，例如云数据库中。

6.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述处理单元包括具有操作系统和/或独立设备的计算设备，比如现场可编程门阵列模块。

7.根据前述权利要求中任一项所述的系统，所述处理单元还被配置为确定所述样本的折射率。

8.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述处理器被配置为分析具有已知厚度的所述样本的多反射峰位置，并计算所述样本的折射率，其可以包括执行机器学习。

9.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述处理单元被配置为测量所述样本的厚度。

10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述处理单元被配置为分析具有已知折射率的所述样品的多反射峰位置，并提取所述样品的厚度。

11.根据权利要求9或10所述的系统，其中，所述处理单元被配置为基于所述样本的透射或反射的测量来计算所述样本的光导率。

12.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述太赫兹光谱仪被配置为用于所述样本的近场成像。

13.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述太赫兹光谱仪包括发射器阵列和/或检测器阵列。

14.根据权利要求13所述的系统，其中，多个发射器和多个检测器是相同或不同的。

15.根据权利要求13或14所述的系统，其中，所述发射器阵列安装在基底之上。

16.根据权利要求15所述的系统，其中，所述检测器阵列安装在不同基底或相同基底之上。

17.根据权利要求16所述的系统，其中，所述基底是柔性的。

18.根据权利要求15至16中任一项所述的系统，其中，所述基底中的至少一个被配置为用于支承和/或适应于所述样本。

19.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统被构造为便携装置。

20.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述太赫兹光谱仪被配置为经由自由空间接口和/或波导接口，比如光纤接口接收用于所述太赫兹信号的激发的激光束。

21.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，所述系统被包括在现有的监视设备或医疗装置，比如X射线扫描装置或金属探测器之中。