[发明专利]借助由扫描器光具偏转测量激光射束来测量构建缸组件的基础元件的方法

权利要求书

1.一种用于测量构建缸组件(11)的基础元件(13)的方法，

其中，构建缸组件(11)布置在机器(1)上，所述机器用于通过借助高能射束(16)烧结或熔化粉末状材料(6)逐层制造三维对象(2)，

其中，基础元件(13)在构建缸组件(11)的基本上柱形的基体(14)中能借助活塞(12)移动，

其中，为了测量基础元件(13)，由激光产生测量图案(50)，所述测量图案照射基础元件(13)的至少一个部分，并且，激光的入射地点(A1，A2)借助摄像机(21)被观察和分析评价并从而确定关于基础元件(13)的测量数据，所述测量数据包括位置信息和/或取向信息和/或关于基础元件(13)的表面(O1-O3)的至少一个部分的三维构型的信息，

其特征在于，

由激光产生测量图案(50)，其方式是，测量激光器(23)的激光射束(24)被扫描器光具(19)偏转，使得产生不同地经偏转的激光射束(24a)，并且，经偏转的激光射束(24a)至少指向到基础元件(13)的所述部分上，并且，

摄像机(21)相对于经偏转的激光射束(24a)在侧向错开布置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

借助对基础元件(13)的所述测量至少也确定基础元件(13)相对于参考结构(54)的倾翻。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，测量图案(50)包括对基础元件(13)的至少一个部分在不同的三个区(51a-51c)中的照射。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述三个区(51a-51c)中的至少两个区的地点相应于能将基础元件(13)相对于参考结构(54)倾翻的执行元件(32)的地点。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，测量图案(50)在所述三个区(51a-51c)中分别包括多个激光点。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，

借助所述测量至少也进行基础元件(13)的表面(O1-O3)的至少一个部分的三维确定。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，测量图案(50)包括对基础元件(13)的表面(O1-O3)的至少所述部分的逐行扫描，其中，在逐行扫描期间借助摄像机(21)完成多个单次拍摄。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，通过测量至少也进行基础元件(13)相对于参考结构(54)的高度方位(z1，z2)的确定。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，

为了测量基础元件(13)，将激光在基础元件(13)上的借助摄像机(21)观察到的入射地点与激光在基础元件(13)上的预期入射地点比较。

10.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述机器(1)还包括加工激光器(17a)，并且，在基础元件(13)的所述测量之后，为了在基础元件(13)上制造至少一个三维对象(2)的层，将在基础元件(13)上的粉末状材料(6)的层的至少部分借助由激光构成的加工图案照射，其中，产生加工图案，其方式是，加工激光器(17a)的加工激光射束(16a)被所述扫描器光具(19)偏转。

11.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在基础元件(13)的所述测量之后，为了在基础元件(13)上制造至少一个三维对象(2)的层，将粉末状材料(6)的层施加到基础元件(13)上，其中，粉末状材料(6)的所述层在应用高能射束(16)之前借助所述摄像机(21)光学检查。