[发明专利]用于校准辐射式密度测量装置的方法

权利要求书

1.一种用于校准辐射式装置的方法，所述辐射式装置用于确定和/或监测位于容器(1)中的介质(6)的密度，其中，设置有发送单元(3)和接收单元(4)，其中，所述发送单元(3)发送预定强度的放射性辐射，并且其中，所述接收单元(4)接收由所述发送单元(3)发送的穿过所述介质(6)之后的放射性辐射，并且其中设置有控制/评估单元(7)，所述控制/评估单元(7)基于由所述接收单元(4)测量的强度确定位于所述容器(1)中的所述介质(6)的密度，其中，所述方法包括以下方法步骤：

·根据公式且应用当放射性辐射穿过所述空容器(1)时的半值厚度N/N₀＝0.5，确定所述空容器(1)的质量衰减系数μ_B，其中μ_B：质量衰减系数，ρ1：容器壁材料的密度，D：辐射传播的距离或所述容器(1)的内直径，I：测量的辐射强度，I₀：发送的辐射强度，N：测量的计数率，N₀：发送的辐射的计数率，

·当已知密度(ρ2)的校准介质位于所述容器(1)中时，基于放射性辐射在穿过所述容器(1)后的测量的强度或计数率来确定质量衰减系数(μ_M)，

·基于两个质量衰减系数查明线性吸收系数(μ)与所述容器(1)的几何尺寸之间的关联性，

·计算校准曲线，该校准曲线示出所述介质的密度与穿过所述容器(1)后的测量的辐射强度或计数之间的关联性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述容器(1)的质量衰减系数根据下式计算：μ_B＝0.693/ρ1D，其中0.693＝ln0.5。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，水被用作校准介质。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，所述发送单元(3)和所述接收单元(4)相对于彼此定位，使得垂直于所述容器(1)的纵轴、相对于所述容器(1)的纵轴倾斜或平行于所述容器(1)的纵轴照射所述容器(1)。

5.根据前述权利要求中的至少一项所述的方法，其中，管道被用作容器(1)，并且其中，所述发送单元(3)和所述接收单元(4)被固定在所述管道的相对的表面区域上。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其中，所述接收单元(4)被实施和定位成使得所述接收单元(4)的敏感部件(5)被所述放射线撞击。