[发明专利]通过尺寸排阻色谱法确定颗粒尺寸分布

说明书

公开了一种用于表征包括颗粒的样本的方法和设备(100，200，300)。该方法包括使用第一颗粒表征技术对样本执行第一测量；以及使样本从第一颗粒表征技术流到颗粒分离装置；用颗粒分离装置分离样本；以及对分离的样本执行第二测量。设备(100，200，300)被配置为执行该方法，并且包括用于根据第一颗粒表征技术(104，105，106)执行测量的测量系统，以及用于分离包括颗粒的样本的颗粒分离装置(102)。

技术领域

本发明涉及一种用于确定颗粒特性的方法和设备。

背景技术

新型生物药物通常使用聚集分析进行分析。尺寸排阻色谱法(SEC)通常用于基于颗粒尺寸或质量分离样本。然而，从SEC柱输出的样本可能不是该样本的真实表示。较大的颗粒或颗粒聚集体被禁止通过SEC柱，并且因此在颗粒尺寸/质量分布分析中将丢失。为了纠正该问题，必须通过另一种技术(通常是分析超速离心(AUC))验证SEC测量。AUC是一项困难、昂贵且耗时的技术。

研究颗粒的聚集特性需要研究大范围的颗粒尺寸。先前，已经使用具有不同测量模态的不同仪器进行了多种分析，以便提供大范围的颗粒尺寸的覆盖。这可能是耗时且不便的。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供了一种表征包含颗粒的样本的方法，该方法包括：使用第一颗粒表征技术对样本执行第一测量；使样本从第一颗粒表征技术流到颗粒分离装置；用颗粒分离装置分离样本；以及对分离的样本执行第二测量。

在用颗粒分离装置分离样本之前，用第一测量技术执行第一测量产生了要通过颗粒分离装置的实际样本的真实样本组成的表示。这可用于确定分离期间是否丢失了任何样本，例如，较大的颗粒是否被禁止通过颗粒分离装置。例如，可以将第一测量与第二测量和/或与附加测量进行比较，以确定是否丢失了样本的任何颗粒。例如，可以将由第一测量确定的颗粒尺寸或颗粒质量分布与由第二测量或附加测量确定的颗粒尺寸或颗粒质量分布进行比较。

通过确定样本的真实表示是否已经被颗粒分离装置分离，可以避免对昂贵的验证技术(诸如AUC)的需求。

第二测量可以由颗粒分离装置本身执行，例如，颗粒分离装置可以包括用于测量分离的样本的样本测量仪器。可替代地或另外地，第二测量可以由被配置为测量从颗粒分离装置输出的样本的单独仪器执行。

第二测量可以确定随时间推移变化的分离的样本的性质，例如提供分离的样本中的颗粒的颗粒特性随时间推移变化的指示。颗粒分离装置可基于颗粒特性使颗粒及时分离(例如，使具有不同尺寸或与吸附剂的不同程度吸附相互作用的颗粒具有不同的洗脱时间)。第二测量可以使用第一颗粒表征技术或替代的颗粒表征技术。第二测量可以使用用于第一测量的相同仪器。

使样本流入第一颗粒表征技术或从第一颗粒表征技术流出的参考应当理解为是指使样本流向可以执行根据第一颗粒表征技术的测量的位置或从该位置流出。

使用第一颗粒表征技术执行第一测量可以包括执行多个第一测量，所述多个第一测量中的每个第一测量使用相应的颗粒表征技术来执行。

颗粒分离装置可以是分馏装置。颗粒分离装置可包括色谱柱，例如尺寸排阻色谱柱。颗粒分离装置可以执行可用于将样本混合物分离为多于一个的不同种群的任何技术，诸如：

-尺寸排阻色谱法(例如，凝胶渗透色谱法或凝胶过滤色谱法)；

-场流分馏及其相关联的变型，诸如非对称流场流分馏(AF4)；

-其它液相色谱柱(分析型和制备型二者)，包括：亲和力、离子交换、疏水作用、整体式和微柱阵列柱；

-流体动力学色谱法；

-确定性横向位移(DLD)装置；

-填充的珠床，诸如二氧化硅；以及