[发明专利]一种终端及Type C接口防腐蚀方法

说明书

本申请提供一种终端及Type C接口的防腐蚀方法，用于降低Type C接口中CC引脚与其它引脚之间发生电化学腐蚀的几率。在终端中，处理器分别与运动传感器和接口芯片连接；接口芯片分别与处理器和第一Type C接口中的CC引脚连接；运动传感器，用于监测终端的运动状态；处理器，用于根据运动传感器监测到的终端的运动状态，在确定终端的运动状态由移动状态进入静止状态时，控制接口芯片将第一Type C接口的CC引脚配置为低电平模式。由移动状态进入静止状态反应出终端与外接设备断开连接，在此情况下将CC引脚配置为低电平模式，可以降低CC引脚的有效电平，进而降低CC引脚与其它引脚之间发生电化学腐蚀的几率。

技术领域

本申请实施例涉及电子科学技术领域，尤其涉及一种终端及Type C接口防腐蚀方法。

背景技术

C型(Type C)接口是一种常见的通用串行总线(universal serial bus，USB)接口，因其尺寸小、最大数据传输速度高、无需区分正反面等特点而逐渐成为主流的USB接口之一。

在Type C接口中，包括通道配置(channel configuration，CC)引脚，其主要作用之一便是识别外设类型，确定主从关系，根据主从关系配置工作模式。通常，CC引脚的工作模式包括双角色端口(dual role port，DRP)模式、上行端口(upstream facing port，UFP)模式、下行端口(downstream facing port，DFP)模式。其中，DRP模式是一种在UFP模式和DPF模式之间循环切换的模式，可以使Type C接口识别UFP模式、DFP模式等不同接口模式下的外设，并确定终端与外设之间的主从关系，因此大多数Type C接口在无外设接入时都处于DRP模式。UFP模式下，CC引脚的电平为低电平，在终端为从设备时，Type C接口的CC引脚多处于UFP模式。DFP模式下，CC引脚的电平为高电平，在终端为主设备时，Type C接口的CC引脚多处于DFP模式。

在Type C接口中，CC引脚与VBUS引脚相邻设置。由于Type C接口在无外设连接时，CC引脚有效电平较高，而VBUS引脚多为低电平，使得CC引脚与VBUS引脚具有较高的电压差，在Type C接口进液时，相邻的CC引脚与VBUS引脚之间极易发生电化学腐蚀，从而造成CC引脚与VBUS引脚微短路，进而引发一系列问题，如超级快充功能失效，终端无法进入待机状态而导致的终端耗电过快等等。因此，如何降低USB Type C各引脚之间发生电化学腐蚀的几率是目前Type C接口研究的重要方向之一。

发明内容

本申请实施例提供一种终端及Type C接口防腐蚀方法，用于降低Type C接口中CC引脚与其它引脚之间发生电化学腐蚀的几率。

第一方面，本申请实施例提供一种终端，包括：处理器、接口芯片、运动传感器及第一Type C接口；其中，处理器分别与运动传感器和接口芯片连接；接口芯片分别与处理器和第一Type C接口中的CC引脚连接；运动传感器，用于监测终端的运动状态；处理器，用于根据运动传感器监测到的终端的运动状态，在确定终端的运动状态由移动状态进入静止状态时，控制接口芯片将第一Type C接口的CC引脚配置为低电平模式。

终端的运动状态由移动状态进入静止状态时，该运动状态的变化反应出终端与外接设备断开连接，终端在此情况下将CC引脚配置为低电平模式，可以降低CC引脚的有效电平，由于CC引脚的有效电平的高低与CC引脚与其它引脚之间发生电化学腐蚀的几率正相关，因此，降低CC引脚的有效电平，便可以降低CC引脚与其它引脚之间发生电化学腐蚀的几率。

在一种可能的实现方式中，接口芯片，还与第一Type C接口中的VBUS引脚连接，用于获取VBUS引脚的VBUS电压；处理器还用于：从接口芯片获取VBUS引脚的电压状态，其中，VBUS引脚的电压状态是接口芯片根据VBUS引脚的VBUS电压是否低于预设阈值确定的；在确定所述终端的运动状态由移动状态进入静止状态且VBUS引脚处于低于预设阈值的第一电压状态时，控制接口芯片将第一Type C接口的CC引脚配置为低电平模式。