[发明专利]X射线断层扫描检查系统及方法

权利要求书

1.一种被配置为用在X射线检查系统中的光学装置，所述光学装置包括：

光源，被配置为发光；

光电阴极，邻近所述光源，被定位成使得所述光电阴极处于由所述光源发射的光的路径中，并且被配置为发射第一多个电子；

第一倍增电极，被定位成接收由所述光电阴极发射的所述第一多个电子并且被配置为响应于接收到所述第一多个电子而发射第二多个电子；以及

第二倍增电极，被定位成接收由所述第一倍增电极发射的所述第二多个电子并且被配置为响应于接收到所述第二多个电子而发射第三多个电子。

2.根据权利要求1所述的光学装置，其中，所述光学装置的至少一部分被封闭在真空密封的壳体中，并且其中，所述真空密封的壳体包括玻璃和金属中的至少一种。

3.根据权利要求2所述的光学装置，其中，所述光源被定位在所述壳体的外部。

4.根据权利要求2所述的光学装置，其中，所述光电阴极包括沉积在所述真空密封的壳体内的光学透明玻璃上的材料。

5.根据权利要求1所述的光学装置，其中，所述光学装置进一步包括栅电极和聚焦电极中的至少一种。

6.根据权利要求1所述的光学装置，其中，所述光源是发光二极管(LED)。

7.根据权利要求6所述的光学装置，其中，所述LED发射蓝光和白光中的至少一种。

8.根据权利要求1所述的光学装置，其中，所述光源是激光器。

9.根据权利要求2所述的光学装置，其中，所述光电阴极、所述第一倍增电极、以及所述第二倍增电极被放置在所述真空密封的壳体内。

10.一种X射线检查系统，包括：

固定X射线源，围绕扫描体积延伸，其中，所述固定X射线源包括：

多个源点，其中，所述多个源点中的每一个被配置为生成X射线并将所述X射线引导到所述扫描体积中，并且其中，所述多个源点中的每一个包括：

光组件，包括：

光源，被配置为发光；

光电阴极，邻近所述光源，被定位成使得所述光电阴极处于由所述光源发射的光的路径中，并且被配置为发射第一多个电子；

第一倍增电极，被定位成接收由所述光电阴极发射的所述第一多个电子并且被配置为响应于接收到所述第一多个电子而发射第二多个电子；以及

第二倍增电极，被定位成接收由所述第一倍增电极发射的所述第二多个电子并且被配置为响应于接收到所述第二多个电子而发射第三多个电子；以及

阳极组件，被定位成接收所述第三多个电子并且被配置为将所述第三多个电子转换为所述X射线；

X射线检测器阵列，围绕所述扫描体积延伸并且被布置为检测来自所述阳极组件的已穿过所述扫描体积的X射线；

传送机，被布置成传送物品通过所述扫描体积；以及

至少一个处理器，用于处理检测到的X射线以产生穿过所述扫描体积的物品的图像。

11.根据权利要求10所述的X射线检查系统，其中，所述阳极组件从多个不同的发射点发射X射线。

12.根据权利要求10所述的X射线检查系统，其中，所述多个源点中的每一个被封闭在真空密封的壳体中，并且其中，所述壳体包括玻璃和金属中的至少一种。

13.根据权利要求10所述的X射线检查系统，其中，所述光组件进一步包括栅电极和聚焦电极中的至少一种。

14.根据权利要求10所述的X射线检查系统，其中，所述光电阴极包括沉积在光学透明玻璃上的材料。

15.根据权利要求10所述的X射线检查系统，其中，所述光源是发光二极管(LED)。