[发明专利]标签剂系统有效

专利信息
申请号: 201880081857.7 申请日: 2018-12-10
公开(公告)号: CN111492637B 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 纳比尔·劳安迪 申请(专利权)人: 光谱系统公司
主分类号: G07D7/202 分类号: G07D7/202;G07D7/1205;G07D7/005
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 刘粉宝;高迷想
地址: 美国罗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
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【权利要求书】:

1.一种认证系统,包括:

基底,所述基底包括在所述基底的一个或多个部分处设置在所述基底中或所述基底上的一个或多个掺杂内含物,使得所述基底的设置有掺杂内含物的部分处的电磁辐射吸收和反射不同于所述基底的未设置掺杂内含物的部分处的电磁辐射吸收和反射,其中所述一个或多个掺杂内含物包括一种或多种尖锐线宽吸收体掺杂剂;及

检测器,所述检测器包括:

电磁辐射源,所述电磁辐射源被配置为以多个波长的电磁辐射向所述基底辐射,及

成像系统,所述成像系统被配置为获取受辐射的所述基底的多个图像。

2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述基底是纸币。

3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述一个或多个掺杂内含物包括盘状内含物、基于平板的内含物、基于纤维的内含物或其组合。

4.根据权利要求1所述的系统,其中,所述一个或多个掺杂内含物掺杂有一种或多种掺杂剂,所述掺杂剂是无机的、具有纳米尺寸分布、具有小于1000℃的熔化温度或其组合。

5.根据权利要求1所述的系统,其中,所述一个或多个掺杂内含物包括第一掺杂内含物和第二掺杂内含物,其中,所述第一掺杂内含物基于所使用的掺杂剂、物理参数或两者而不同于所述第二掺杂内含物。

6.根据权利要求5所述的系统,其中,所述第一掺杂内含物至少基于物理参数而不同于所述第二掺杂内含物,其中,所述物理参数是所述掺杂内含物的长度、半径、直径或尺寸。

7.根据权利要求1所述的系统,其中,所述一个或多个掺杂内含物中的至少一个掺杂内含物提供单条吸收线。

8.根据权利要求1所述的系统,其中,所述一个或多个掺杂内含物中的至少一个掺杂内含物提供多条吸收线。

9.根据权利要求1所述的系统,其中,当一个或多个掺杂内含物被设置在所述基底中时,肉眼不可见。

10.根据权利要求1所述的系统,其中,所述电磁辐射源被配置为以第一波长发射电磁辐射,所述第一波长对应于或基本上对应于所述掺杂内含物的吸收峰,以及以第二波长和第三波长中的至少一个发射电磁辐射,其中,所述第二波长小于所述第一波长且对应于所述吸收峰的第一侧,并且其中,所述第三波长大于所述第一波长且对应于与所述吸收峰的第一侧相对的所述吸收峰的第二侧。

11.一种认证方法,包括:

用检测器的电磁辐射源以多个波长辐射基底,所述基底包括在所述基底的一个或多个部分处设置在所述基底中或所述基底上的一个或多个掺杂内含物,使得所述基底的设置有掺杂内含物的部分处的电磁辐射吸收和反射不同于所述基底的未设置掺杂内含物的部分处的电磁辐射吸收和反射,其中所述一个或多个掺杂内含物包括一种或多种尖锐线宽吸收体掺杂剂;

利用检测器的成像系统获取以多个波长受到辐射的所述基底的多个图像;及

通过对多个图像的图像分析来检测所述一个或多个掺杂内含物。

12.根据权利要求11所述的方法,其中,图像分析是基于像素的减法处理,从所述基底以第二波长受到辐射的多个图像中的第二图像中减去所述基底以第一波长受到辐射的多个图像中的第一图像。

13.根据权利要求12所述的方法,其中,所述图像分析包括从第二图像中减去第一图像和从所述基底以第三波长受到辐射的多个图像中的第三图像中减去第一图像的步骤。

14.根据权利要求11所述的方法,其中,所述基底是纸币。

15.根据权利要求11所述的方法,其中,所述一个或多个掺杂内含物包括盘状内含物、基于平板的内含物、基于纤维的内含物或其组合。

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