[发明专利]检测装置有效

专利信息
申请号: 201880082159.9 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN111712894B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 内田亮介 申请(专利权)人: 阿尔卑斯阿尔派株式会社
主分类号: H01H13/00 分类号: H01H13/00;H01H13/52
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种检测装置,具备:

第一电极及第二电极;

可变电阻部,形成在所述第一电极与所述第二电极之间;以及

触点部件,能够弹性变形,该触点部件与所述可变电阻部的接触面积根据向所述可变电阻部的方向施加的载荷而变大,

所述可变电阻部具有输出变化区域,来自所述第二电极的输出电压根据所述输出变化区域与所述触点部件的接触面积而变化,

所述输出变化区域形成为,与所述触点部件的接触面积越大,则与所述触点部件的外周部的接触距离越长,

所述输出变化区域包括第一部分,该第一部分以越远离所述第一电极则宽度越窄的方式形成。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,

所述输出变化区域包括第二部分,该第二部分以越远离所述第二电极则宽度越窄的方式形成。

3.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,还具备:

第三电极;以及

固定电阻部,形成在所述第二电极与所述第三电极之间。

4.根据权利要求3所述的检测装置,其中,

所述可变电阻部及所述固定电阻部,由具有相同电阻率的电阻体图案形成。

5.根据权利要求2所述的检测装置,其中,

所述可变电阻部具有将所述第一部分和所述第二部分连接的接触部分,

所述触点部件以与所述接触部分接触的方式配置。

6.根据权利要求5所述的检测装置,其中,

所述接触部分包括低电阻部分,该低电阻部分具有比所述第一部分以及所述第二部分低的电阻率。

7.根据权利要求6所述的检测装置,其中,

所述低电阻部分由银图案形成。

8.根据权利要求2所述的检测装置,其中,

所述触点部件具有比所述第一部分及所述第二部分低的电阻率。

9.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,

所述触点部件的与所述可变电阻部的接触面的形状根据所述载荷而变化为相似形。

10.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,

所述触点部件具有圆锥台形状。

11.根据权利要求5所述的检测装置,其中,

所述第一部分及所述第二部分夹着所述接触部分而相对配置。

12.根据权利要求2所述的检测装置,其中,

所述第一部分及所述第二部分具有相同形状。

13.根据权利要求2所述的检测装置,其中,

上述第一部分及上述第二部分中的至少一方具有扇形状、梯形形状或者钟形形状。

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