[发明专利]用于样品的基于显微术的成像的方法和装置

说明书

一种用于执行样品的基于显微术的成像的方法，所述方法包括：将样品固持器(100)装载到被配置成收纳所述样品固持器(100)的支撑件(50)上；从所述样品固持器(100)的第一条带上的起始位置开始在第一方向上移动所述样品固持器(100)，以使所述样品固持器(100)相对于线相机(10)的成像线移动，从而捕获所述样品固持器(100)的所述第一条带的图像；当所述样品固持器(100)在所述第一方向上移动时，使用自动聚焦系统(15)监测焦平面；响应于来自所述自动聚焦系统(15)的信号，沿光轴移动物镜(25)以调整所述焦平面；以及在第二方向上移动所述样品固持器(100)，以将所述线相机(10)的所述成像线与所述样品固持器(100)的第二条带上的位置对齐。

技术领域

本发明涉及一种用于样品的基于显微术的分析的装置。在一些实例中，装置能够检测样品中微观物体(如微观生物物体)的存在、数量和/或不存在。

背景技术

在各个领域，重要的是能够快速有效地分析样品，并且特别是能够检测和/或计数小物体，如生物颗粒、分子、细胞等。然而，仍然需要在此领域中进一步提高方法和装置的能力。

发明内容

根据第一方面，本发明提供了一种用于执行样品的基于显微术的成像的方法，所述方法包括：

将样品固持器装载到被配置成收纳所述样品固持器的支撑件上；

从所述样品固持器的第一条带上的起始位置开始在第一方向上移动所述样品固持器，以使所述样品固持器相对于线相机的成像线移动，从而捕获所述样品固持器的所述第一条带的图像；

当所述样品固持器在所述第一方向上移动时，使用自动聚焦系统确定(例如，监测)焦平面；

响应于来自所述自动聚焦系统的信号，沿光轴移动物镜以调整所述焦平面(如有必要)；以及

在第二方向上移动所述样品固持器，以将所述线相机的所述成像线与所述样品固持器的第二条带上的位置对齐。

在装载所述样品固持器时，所述自动聚焦系统可以在移动所述样品固持器之前设置初始焦平面。

在样品固持器移动(例如，以进行成像)时，自动聚焦系统可以监测焦平面，并且可以根据需要调整焦平面。因此，“当所述样品固持器在所述第一方向上移动时，使用自动聚焦系统确定(例如，监测)焦平面；[以及]响应于来自所述自动聚焦系统的信号，沿光轴移动物镜以调整所述焦平面(如有必要)”是指所述焦平面的这种监测以及在必要时所述焦平面的调整。

自动聚焦系统可以将初始焦平面设置在样品固持器的表面处，并且在样品固持器移动(例如，以进行成像)时，自动聚焦系统可以监测样品固持器的表面的位置，并且可以通过调整焦平面来补偿所述表面中的任何偏差。如果样品固持器的表面是完全光学平坦的(并且完全垂直于所述光轴)，则无需调整焦平面。

样品固持器可以包括一个或多个样品室，并且自动聚焦系统可以将初始焦平面设置在样品固持器中的一个或多个样品室的底表面处。在样品固持器移动(例如，以进行成像)时，自动聚焦系统可以监测样品固持器中的一个或多个样品室的底表面的位置，并且可以通过调整焦平面来补偿所述表面中的任何偏差。如果样品固持器中的一个或多个样品室的底表面是完全光学平坦的(并且完全垂直于所述光轴)，则无需调整焦平面。

因此，自动聚焦系统有利地可以是跟踪式自动聚焦系统，使得自动聚焦系统在样品固持器移动时调整焦平面，任选地具有足够快的响应时间以考虑到样品固持器的表面中的任何不平整，特别是样品固持器中的一个或多个样品室的底表面中的任何不平整。

所述线相机的焦平面可以设置在与由所述自动聚焦系统确定的所述焦平面相同的平面处。可替代地，所述线相机在所述光轴的方向上以少量偏移安装，以便将所述线相机的所述焦平面放置在与所述自动聚焦系统的所述焦平面略微不同的水平处。