[发明专利]用于检测污染物存在或不存在的方法和传感器在审
申请号: | 201880083009.X | 申请日: | 2018-12-12 |
公开(公告)号: | CN111512143A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | P.弗里肖夫;M.塔加德;F.奥斯 | 申请(专利权)人: | 雷迪奥米特医学公司 |
主分类号: | G01N21/15 | 分类号: | G01N21/15;G01N21/64 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王冉 |
地址: | 丹麦布*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 污染物 存在 不存在 方法 传感器 | ||
1.一种检测样本分析仪的测量室中的污染物的方法,其中所述样本分析仪包括光学传感器,所述光学传感器具有包括发光体的传感器层,其中所述传感器层具有传感器表面,所述传感器表面形成通向存在于所述测量室中的流体样本的界面,所述方法包括以下步骤:
a.用流体样本填充所述测量室;
b.向所述传感器层中的所述发光体施加刺激;
c.随时间的变化检测响应于所述刺激而从所述传感器层中的所述发光体发射的发光;
d.获得所检测到的发光的测量值的时间序列;
e.基于所述时间序列,确定第一参数的实际值和第二参数的实际值,其中所述第一参数和所述第二参数中的一者对所述传感器层和所述测量室之间的所述界面上的折射率的变化敏感,并且其中所述第一参数和所述第二参数中的另一者对所述传感器层和所述测量室之间的所述界面上的折射率的所述变化不敏感;
f.基于所述第一参数的所述实际值为所述第二参数制定预期值;
g.将所述第二参数的所述预期值与所述第二参数的所述实际值进行比较;以及
h.基于所述比较确定污染物的存在或基于所述比较确定污染物的不存在。
2.根据权利要求1所述的方法,其中如果所述第二参数的所述实际值与所述第二参数的所述预期值之间的差值高于阈值,则确定污染物存在,并且/或者其中如果所述第二参数的所述实际值与所述第二参数的所述预期值之间的所述差值低于所述阈值,则确定污染物不存在。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述流体样本为水性液体。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述流体样本为折射率介于1.2和1.5之间诸如介于1.25和1.45之间、介于1.3和1.4之间或为约1.3的液体。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述流体样本为气体。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述气体具有低于1.1、低于1.05、低于1.01或为约1的折射率。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述传感器层的所述折射率为至少1.4、介于1.4和1.45之间、至少1.45、介于1.45和1.5之间、至少1.5、介于1.5和1.55之间或至少1.55。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中向所述发光体施加刺激的所述步骤包括用适于激发所述发光体的激发光谱范围内的光照射所述传感器层。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中获得测量值的时间序列的所述步骤包括在多个至少三个时间点处测量发光强度。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中针对所述刺激终止之后的时间窗口和/或针对所述刺激施加期间的时间窗口获得测量值的所述时间序列。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述第一参数对应于所述发光的寿命τ。
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述第二参数对应于给定时间点处的所述发光的强度。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述传感器层中的所述发光体为发光寿命介于1μs和1s之间的荧光体;并且/或者其中所述传感器层中的所述发光体为发光寿命为至少10μs、至少20μs、至少30μs、至少40μs、至少50μs、至少60μs、至少70μs、至少80μs、至少90μs、至少100μs、至少150μs或至少200μs的荧光体;并且/或者其中所述传感器层中的所述发光体为发光寿命长达并包括1s、100ms、10ms、1ms、500μs、300μs、150μs、30μs或15μs的荧光体。
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