[发明专利]离子源快速交换装置和离子传输装置有效
申请号: | 201880083122.8 | 申请日: | 2018-12-21 |
公开(公告)号: | CN111512412B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 保罗·穆雷;马克·托尔斯;安德鲁·惠特利;马修·亨德森;菲莉帕·哈特;埃曼纽尔·克劳德;理查德·贾罗德;杰夫·布朗;史蒂夫·布拉斯;爱德华·斯科特 | 申请(专利权)人: | 英国质谱公司 |
主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04;H01J49/06;H01J49/42;F16K1/20;F16K51/02 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 宋融冰 |
地址: | 英国威*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离子源 快速 交换 装置 离子 传输 | ||
公开了一种质谱仪,其包括具有弯曲、球形、圆柱形或凹形部分的可旋转的隔离阀(1)。第一离子导向器(2)的至少一部分被定位成在所述隔离阀(1)的扫掠体积内延伸,从而使得所述第一离子导向器(2)能够靠近第二离子导向器(3)定位,并且用于使离子以高离子传输效率从所述第一离子导向器(2)传输到所述第二离子导向器(3)。
技术领域
本发明总体上涉及质谱分析领域。
背景技术
包括基质辅助激光解吸电离(“MALDI”)离子源的质谱仪是已知的。基质辅助激光解吸电离(MALDI)质谱是一种已知的方法,特别适合于非挥发性生物分子的分析。将合适的基质材料(例如有机溶剂)添加到样品中,使得样品嵌入基质材料中。然后将嵌入的样品放置在金属板上,并且将激光脉冲引向到目标样品上。撞击在目标样品上的激光脉冲使得分析物材料被烧蚀并从目标样品中解吸。分析物离子由分析物材料在从目标释放的热气态分子羽流中被质子化或去质子化而生成。基质在激光脉冲的波长下具有很强的吸收作用,并且充当质子源以促进分析物的电离。从目标释放的气态羽流包括分析物离子与中性粒子的混合物。然后将分析物离子和中性粒子的混合物引向质谱仪的入口。将分析物离子与中性颗粒分离,并且将分析物离子向前传输到质谱仪的质量分析仪,以便进行质量分析。
基质辅助激光解吸电离质谱成像(“MALDI-MSI”)涉及通过用聚焦激光束扫描目标并记录每个辐照像素处的离子分布来分析生物分子在目标表面(例如嵌入基质中的组织)上的分布。然后可在目标表面上构建目标的质谱属性图像。
根据已知的包括基质辅助激光解吸电离(MALDI)离子源的质谱仪,由离子源生成的分析物离子经由设置在质谱仪的第一或初始真空室中的第一棒组离子导向器向前传输到质谱仪的其它级。
已知布置的一个问题是,第一棒组离子导向器可被污染,或者包括第一棒组离子导向器的棒电极可变脏或被分析物和背景材料涂覆。特别地,离子和中性粒子可在一段时间内撞击形成第一棒组离子导向器的电极的外表面,使得形成第一棒组离子导向器的电极被绝缘材料涂覆,从而降低第一棒组离子导向器的性能,并且因此对质谱仪的整体性能产生负面影响。
为了维持第一棒组离子导向器和整个质谱仪的性能,有必要定期从质谱仪的第一或初始真空室移除第一棒组离子导向器,以便通过移除第一棒组离子导向器的电极表面上的任何表面污染物累积来清洁第一棒组离子导向器。
然而,从已知质谱仪的第一真空室移除第一棒组离子导向器的过程相对复杂且耗时。已知布置的第一棒组离子导向器不容易从容纳它的质谱仪的真空室移除。如本领域技术人员将理解的,第一棒组离子导向器和真空室的几何形状使得第一棒组离子导向器不能由非技术人员维修。特别地,这需要熟练的服务工程师的服务,以便从质谱仪的第一真空室移除第一棒组离子导向器。
此外,出于清洁目的从质谱仪的第一真空室移除第一棒组离子导向器的过程包括在从第一真空室移除第一棒组离子导向器之前使质谱仪完全排气。
本领域技术人员将理解,在质谱仪的下游分析仪级中建立高真空(低压)的过程是一个耗时的过程。因此,清洁质谱仪的第一棒组离子导向器的常规方法既相对复杂,因为它需要熟练工程师的服务,又相对耗时,因为质谱仪将离线一段时间,同时使质谱仪最初完全排气。此外,一旦将第一棒组离子导向器已被移除、清洁并重新安装在质谱仪的第一真空室中,则需要相当长的时间才能在质谱仪的下游分析仪级中重建高真空(低压)。
以类似的方式,常规地,如果希望移除容纳在质谱仪的真空室中的低于大气压的离子源以操作不同类型的离子源,则这类似地涉及到仪器的完全排气。因此,常规上寻求将低于大气压的离子源改变为大气压离子源可为相对复杂且耗时的过程,需要熟练工程师的服务。
希望提供一种改进的质谱仪。
发明内容
根据一个方面,提供了一种设备,其包括:
真空室;
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