[发明专利]处理装置、半导体集成电路以及状态监视方法有效
申请号: | 201880083873.X | 申请日: | 2018-11-05 |
公开(公告)号: | CN111527724B | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 后藤诚司;仁茂田永一 | 申请(专利权)人: | 株式会社索思未来 |
主分类号: | H04L9/32 | 分类号: | H04L9/32;G06F11/30;G06F11/34;G06F21/60 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;王海奇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 半导体 集成电路 以及 状态 监视 方法 | ||
安全地监视多个半导体集成电路的状态。在具有半导体集成电路(11~13)的处理装置(10)中,设置于半导体集成电路(13)的状态监视电路(13c)对半导体集成电路(11、12)指示发送表示半导体集成电路(11、12)的状态的状态信息,并在设置于每个半导体集成电路(11、12)的状态监视电路(11c)接收到发送状态信息的指示的情况下,对半导体集成电路(13)发送对状态信息加密后的加密信息。
技术领域
本发明涉及处理装置、半导体集成电路以及状态监视方法。
背景技术
以往,作为监视多个服务器的状态(温度、电压等)的技术,有将设置于每个服务器的BMC(Baseboard management controller:底板管理控制器)使用传感器检测出的状态经由网络发送至客户端计算机的技术。
另外,近年来,伴随着系统的复杂化、大规模化,提出一种包括多个SoC(System onChip:片上系统)的系统。
专利文献1:美国专利申请公开第2014/0344431号说明书
在包括多个SoC等半导体集成电路的系统中,在监视各半导体集成电路的状态时应用上述那样的以往方法的情况下,在每个半导体集成电路设置相当于BMC的状态监视用芯片。还设有汇总由各状态监视用芯片监视到的状态的外部的系统。在该情况下,与各半导体集成电路的状态相关的信息被暴露于外部,在安全性上存在不安全的问题。
发明内容
根据发明的一个观点,提供一种处理装置,具有第一半导体集成电路和多个第二半导体集成电路,上述第一半导体集成电路具有第一状态监视电路,上述第一状态监视电路对上述多个第二半导体集成电路指示发送表示上述多个第二半导体集成电路的状态的状态信息上述多个第二半导体集成电路分别具有第二状态信息监视电路,上述第二状态信息监视电路在接收到发送上述状态信息的指示的情况下,对上述第一半导体集成电路发送对上述状态信息加密后的加密信息。
另外,根据发明的一个观点,提供一种半导体集成电路,该半导体集成电路具有:接口电路,与多个半导体集成电路进行通信;通信电路,指示上述多个半导体集成电路发送表示上述多个半导体集成电路的状态的状态信息,并从上述多个半导体集成电路的各个半导体集成电路接收对上述状态信息加密后的加密信息,并对上述加密信息进行解密来生成上述状态信息;以及输出电路,将上述状态信息输出至外部装置。
另外,根据发明的一个观点,提供一种半导体集成电路,该半导体集成电路具有:存储电路,存储表示自身的状态的状态信息;控制电路,从上述存储电路读出上述状态信息;接口电路,与第一半导体集成电路进行通信;以及通信电路,在从上述第一半导体集成电路接收到发送上述状态信息的指示时,生成对从上述存储电路读出的上述状态信息加密后的加密信息,并将上述加密信息发送至上述第一半导体集成电路。
另外,根据发明的一个观点,提供一种状态监视方法,该状态监视方法是包括第一半导体集成电路和多个第二半导体集成电路的处理装置的状态监视方法,设置于上述第一半导体集成电路的第一状态监视电路对上述多个第二半导体集成电路指示发送表示上述多个第二半导体集成电路的状态的状态信息,设置于上述多个第二半导体集成电路的各个第二半导体集成电路的第二状态监视电路在接收到发送上述状态信息的指示的情况下,对上述第一半导体集成电路发送对上述状态信息加密后的加密信息。
能够安全地监视多个半导体集成电路的状态。
通过与表示作为本发明的例子优选的实施方式的附图相关的以下的说明,本发明的上述以及其它目的、特征以及优点会变得清楚。
附图说明
图1是表示第一实施方式的处理装置以及半导体集成电路的一个例子的图。
图2是表示第二实施方式的处理装置以及半导体集成电路的一个例子的图。
图3是表示加密/解密处理电路的一个例子的图。
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