[发明专利]图像读取装置有效

专利信息
申请号: 201880085572.0 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN111602178B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 尾込智和;时田直幸;松井秀树;国枝达也 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G07D7/026 分类号: G07D7/026
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 熊风;宋俊寅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 读取 装置
【权利要求书】:

1.一种图像读取装置,其特征在于,包括:

静电电容检测装置,该静电电容检测装置具有:第1电极和第2电极,该第1电极和第2电极夹住沿着片状的检测对象物被传送的方向即传送方向的传送路径,且至少一部分相对;振荡电路,该振荡电路在所述第1电极与所述第2电极之间形成电场;检测电路,该检测电路检测所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容的变化;第1基板,该第1基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少一方;第2基板,该第2基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少另一方;绝缘性的第1平板,该绝缘性的第1平板形成在所述第1电极与所述传送路径之间;以及绝缘性的第2平板,该绝缘性的第2平板形成在所述第2电极与所述传送路径之间;

第1光源,该第1光源向所述检测对象物照射光;

第1图像读取部,该第1图像读取部利用所述第1光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取第1读取位置的图像;

第2光源,该第2光源向所述检测对象物照射光;以及

第2图像读取部,该第2图像读取部利用所述第2光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取第2读取位置的图像,

在所述传送方向上,在所述第1读取位置与所述第2读取位置之间配置所述第1电极和所述第2电极,

所述图像读取部包括:透镜元件,该透镜元件经由所述第1平板和所述第2平板的至少一方将被所述检测对象物所反射的光、或透过了所述检测对象物的光聚合;以及传感器元件,该传感器元件接收所述透镜元件所聚合的聚合光,

对于所述第2图像读取部,所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第1光源照射出的光进行遮光。

2.如权利要求1所述的图像读取装置,其特征在于,

对于所述第1图像读取部,所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第2光源照射出的光进行遮光。

3.如权利要求1或2所述的图像读取装置,其特征在于,

所述第1基板和所述第2基板的至少一方的主面配置为与正交于所述传送方向的方向平行。

4.如权利要求1或2所述的图像读取装置,其特征在于,

所述第1基板和所述第2基板的主面配置为分别与正交于所述传送方向的方向平行,所述第1基板和所述第2基板在所述传送方向上错开配置。

5.一种图像读取装置,其特征在于,包括:

静电电容检测装置,该静电电容检测装置具有:第1电极和第2电极,该第1电极和第2电极夹住沿着片状的检测对象物被传送的方向即传送方向的传送路径,且至少一部分相对;振荡电路,该振荡电路在所述第1电极与所述第2电极之间形成电场;检测电路,该检测电路检测所述第1电极与所述第2电极之间的静电电容的变化;第1基板,该第1基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少一方;第2基板,该第2基板形成有所述振荡电路和所述检测电路的至少另一方;绝缘性的第1平板,该绝缘性的第1平板形成在所述第1电极与所述传送路径之间;以及绝缘性的第2平板,该绝缘性的第2平板形成在所述第2电极与所述传送路径之间;

第1光源,该第1光源向所述检测对象物照射光;以及

第1图像读取部,该第1图像读取部利用所述第1光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取第1读取位置的图像;

第2光源,该第2光源向所述检测对象物照射光;以及

第2图像读取部,该第2图像读取部利用所述第2光源的光在所述检测对象物的反射光或透射光来读取第2读取位置的图像,

在所述传送方向上,在所述第1读取位置与所述第2读取位置之间配置所述第1电极和所述第2电极,

对于所述第2图像读取部,所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第1光源照射出的光进行遮光。

6.如权利要求5所述的图像读取装置,其特征在于,

对于所述第1图像读取部,所述第1基板和所述第2基板的至少一方对从所述第2光源照射出的光进行遮光。

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