[发明专利]测量装置在审

申请号：	201880086495.0	申请日：	2018-07-30
公开（公告）号：	CN111727364A	公开（公告）日：	2020-09-29
发明（设计）人：	增田雄治;米田将史;中园纯平	申请（专利权）人：	京瓷株式会社
主分类号：	G01N15/06	分类号：	G01N15/06;G01N15/14
代理公司：	中科专利商标代理有限责任公司 11021	代理人：	李逸雪
地址：	日本***	国省代码：	暂无信息
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摘要：
搜索关键词：	测量装置
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【说明书】：

本公开的测量装置是能够测量流体中的特定的粒子的测量装置，具备：流路器件，具有包含透光性的所述粒子的第1流体所经过的第1流路、以及不包含所述粒子的第2流体所经过的第2流路；光学传感器，与所述流路器件对置，对所述第1流路以及所述第2流路的每一个照射光，并接收分别经过了所述第1流路以及所述第2流路的光；以及控制部，将通过所述光学传感器而得的经过了所述第1流路的光的强度以及经过了所述第2流路的光的强度进行比较，由此来测量所述粒子。

技术领域

本发明涉及一种测量装置。

背景技术

以往，对微粒子进行测量是已知的(专利文献1)。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-244165号公报

发明内容

-发明要解决的课题-

在这样的测量装置中，要求使测量精度提高。

-用于解决课题的手段-

本公开的测量装置是能够测量流体中的特定粒子的测量装置，具备：流路器件，具有包含透光性的所述粒子的第1流体所经过的第1流路、以及不包含所述粒子的第2流体所经过的第2流路；光学传感器，与所述流路器件对置，对所述第1流路以及所述第2流路的每一个照射光，并接收分别经过了所述第1流路以及所述第2流路的光；以及控制部，将通过所述光学传感器而得的经过了所述第1流路的光的强度以及经过了所述第2流路的光的强度进行比较，由此来测量所述粒子。

-发明的效果-

根据本公开的测量装置，能够使测量精度提高。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的俯视图。

图2是示意性表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的结构的框图。

图3是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的剖视图。

图4是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的一部分的俯视图。

图5是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的一部分的俯视图。

图6是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的剖视图。

图7是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的剖视图。

图8是表示本发明的实施方式所涉及的测量装置的剖视图。

图9是表示本发明的另一实施方式所涉及的测量装置的一部分的俯视图。