[发明专利]用于测试ASIC的主要内部信号的电路

权利要求书

1.一种用于测试ASIC的主要内部信号的电路，其中，设置仅一个测试引脚(TEST)，通过所述测试引脚能够执行选择待考察的数字信号(D₁，D₂，...，D_n)或选择一个模拟信号(A₁，A₂，...，A_m)，所述电路包括：

布置在所述测试引脚(TSET)和所述电路的输出接头(TM)之间的施密特触发器(SMT₁)，其中，在超过所述施密特触发器(SMT₁)的切换阈值时，设置激活测试模式，

至少一个子电路，设置为用于考察数字信号(D₁，D₂，...，D_n)，所述至少一个子电路具有电阻(R₁，R₂，...，R_n)、NMOS晶体管(M₁，M₂，...，M_n)和与门(X₁，X₂，...，X_n)，在所述与门的第一输入端上存在所述数字信号(D₁，D₂，...，D_n)，

其中，所述电阻(R₁，R₂，...，R_n)布置在所述测试引脚(TEST)和所述NMOS晶体管(M₁，M₂，...，M_n)的漏极接头之间，所述NMOS晶体管(M₁，M₂，...，M_n)的源极接头与地电位(GND)连接，所述NMOS晶体管(M₁，M₂，...，M_n)的栅极接头与所述与门(X₁，X₂，...，X_n)的输出端连接，所述与门(X₁，X₂，...，X_n)的第二输入端与所述电路的所述输出端接头(TM)连接。

2.根据权利要求1所述的电路，其中，在所述测试引脚(TSET)上能测量的电流能够根据所有数字信号(D₁，D₂，...，D_n)的或所选择的模拟信号(A₁，A₂，...，A_m)的状态来确定，借助所述能测量的电流能够推断出所有数字信号(D₁，D₂，...，D_n)的状态或推断出所选择的模拟信号(A₁，A₂，...，A_m)的状态。

3.根据权利要求1或2所述的电路，所述电路还包括布置在所述测试引脚(TEST)和所述地电位(GND)之间的电阻(R₀)。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的电路，其中，设置有按照计算式R₀＝2⁰×R,R₁＝2¹×R,R₂＝2²×R,…R_n＝2ⁿ×R确定大小的电阻(R₁，R₂，...，R_n)。