[发明专利]半导体装置以及电力变换装置有效
申请号: | 201880087286.8 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN111630401B | 公开(公告)日: | 2022-09-16 |
发明(设计)人: | 伊藤悠策;中松佑介;富泽淳 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/58 | 分类号: | G01R31/58;G01R31/26;H01L23/49;H02M7/48 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 金春实 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 以及 电力 变换 | ||
1.一种半导体装置,具备:
绝缘基板;
半导体元件,搭载于所述绝缘基板上,在表面具有表面电极;
第1导体图案,形成于所述绝缘基板上,流过所述半导体元件的主电流;
第2导体图案,形成于所述绝缘基板上,用于检测所述半导体元件的所述表面电极的电位;
第1键合导线,连接所述表面电极和所述第1导体图案;
第2键合导线,连接所述表面电极和所述第2导体图案;
电压检测部,与所述第1导体图案及所述第2导体图案连接,检测所述半导体元件进行开关时的所述第1导体图案与所述第2导体图案之间的电压差;以及
劣化探测部,使用所述检测的所述电压差来探测所述第1键合导线的劣化。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,
所述电压检测部检测由所述第1键合导线的电感分量引起的所述电压差。
3.根据权利要求1或者2所述的半导体装置,其中,
所述劣化探测部具备基准电压生成部和比较器,用所述比较器比较所述电压差和由所述基准电压生成部生成的基准电压,在所述电压差超过所述基准电压的情况下,输出报错信号。
4.根据权利要求1或者2所述的半导体装置,其中,
具有多个所述半导体元件,所述多个半导体元件相对所述第1导体图案并联连接。
5.根据权利要求1或者2所述的半导体装置,其中,
具有多个所述半导体元件,所述多个半导体元件相对所述第1导体图案串联连接。
6.根据权利要求1或者2所述的半导体装置,其中,
所述表面电极和所述第1导体图案经由连接有所述第1键合导线以及第3键合导线的第3导体图案连接,
所述电压检测部检测所述第1导体图案与所述第3导体图案之间的电压差以及所述第2导体图案与所述第3导体图案之间的电压差。
7.一种电力变换装置,具备:
主变换电路,具有权利要求1至6中的任意一项所述的半导体装置,该主变换电路变换输入的电力并输出;以及
控制电路,将控制所述主变换电路的控制信号输出给所述主变换电路。
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