[发明专利]用于时钟信号抖动产生的技术

说明书

一种装置(10)可包含集成电路及定位于所述集成电路上的抖动产生器(48)。所述抖动产生器(48)可包含响应于时钟输入信号(CLOCK IN)产生随机数的随机数产生器(54)。所述抖动产生器(48)还可包含接收所述时钟输入信号(CLOCK IN)的引起延迟电路系统(52,100)，其中所述引起延迟电路系统(52,100)可产生延迟时钟输入信号。所述抖动产生器(48)还可包含接收所述随机数、所述延迟时钟输入信号及所述时钟输入信号(CLOCK IN)的相位混合器(50)，其中所述相位混合器(50)额外地输出具有所述时钟输入信号且具有抖动的时钟输出信号(CLOCK OUT)。

背景技术

本发明大体上涉及存储器装置，且更特定来说，涉及在存储器装置的经传输计时信号(clocking signal)上发现的抖动。

本章节希望向读者介绍可与在下文描述及/或主张的本技术的各种方面有关的各种技术方面。据信，此论述有助于对读者提供背景信息以促进更好地理解本发明的各种方面。因此，应了解，这些陈述应在此意义上阅读而非作为现有技术的认可。

一般来说，计算系统可包含在操作中经由电信号传递信息的电子装置。例如，计算系统可包含通信地耦合到存储器装置(例如实施于双列直插存储器模块(DIMM)上的动态随机存取存储器(DRAM))的处理器。以此方式，处理器可与存储器装置通信以例如检索可执行指令、检索待通过处理器处理的数据及/或存储从处理器输出的数据。

随时间的流逝，这些电信号的质量可能归因于例如电子装置的组件的老化而降级。电信号的降级可增加困扰系统的时钟抖动的可能性，其中时钟抖动涉及计时信号偏离所要计时模型使得计时信号的上升边缘早于或晚于所要上升边缘时间以不可预测模型出现，使得补偿抖动具有挑战性。为促进提高操作可靠性，可在完成制造之前例如通过外部验证装置验证存储器装置响应于极端时钟抖动电平的性能。在一些例子中，外部验证装置可在存储器装置已完成制造之后(例如，在顾客将存储器装置返还给制造商的事件中或在制造商装运存储器装置以供销售之前)对存储器装置的操作执行诊断。在一些例子中，可基于分析指示输入到存储器装置及/或从所述存储器装置输出的数据的信号，而非基于存储器装置如何在存储器装置的子组件之间在内部对时钟抖动作出响应而验证所述存储器装置的操作。换句话说，可通过使用外部验证装置对存储器装置及/或计算装置执行验证活动而实现操作监测的准确性。此外，可通过将外部验证装置限制于制造过程中可通过外部验证装置执行验证活动的阶段而实现操作监测的准确性。

附图说明

在阅读以下具体实施方式且参考图式之后可更好地理解本发明的各种方面，其中：

图1是根据实施例的存储器装置的框图；

图2是根据实施例的图1的存储器装置的抖动产生器的框图；

图3是根据实施例的图2的抖动产生器的随机数产生器的框图；

图4A是根据实施例的图2的抖动产生器的模拟操作的图表；

图4B是根据实施例的图2的抖动产生器的模拟操作的图表；

图5A是根据实施例的图2的抖动产生器的模拟操作的图表；

图5B是根据实施例的图2的抖动产生器的模拟操作的图表；

图6是根据实施例的图2的抖动产生器的框图；

图7A是根据实施例的图6的抖动产生器的模拟操作的图表；

图7B是根据实施例的图6的抖动产生器的模拟操作的图表；

图8A是根据实施例的图6的抖动产生器的模拟操作的图表；

图8B是根据实施例的图6的抖动产生器的模拟操作的图表；

图9是根据额外实施例的图2的抖动产生器的另一实施例的框图；及